產(chǎn)品概要

M系列探針臺簡易輕便，占有空間小且移動方便。在保證測試精度的前提下，又性價比，非常適合高校教學(xué)實(shí)驗(yàn)使用。如果測試器件的PAD點(diǎn)大于30μm，M系列則是其中的主選設(shè)備之一。該設(shè)備能勝任各種DC直流，至67GHz的RF射頻，MEMS等測試應(yīng)用。

基本信息

應(yīng)用方向

廣泛應(yīng)用于DC直流/（IV、CV、I-t、V-t），DC直流/低電流（100f）測試 ，1/f噪聲測試 ，器件表征測試，RF射頻等。

技術(shù)特點(diǎn)

> 全新升級的卡盤移動平臺

封閉式移動平臺設(shè)計，防塵，防誤操作，結(jié)構(gòu)美觀； 移動平臺采用THK精密絲杠傳動+線性移動+無間隙回程差設(shè)計+卡盤鎖緊功能，多方面提升卡盤移動精度。

> 帶有3段真空吸附控制的卡盤

采用中心真空吸附孔和3圈真空吸附環(huán)固定樣品，卡盤每個真空通道均可獨(dú)立控制。標(biāo)準(zhǔn)卡盤中心吸附孔為1mm直徑，亦可根據(jù)客戶要求定制。同時卡盤角度可360旋轉(zhuǎn)，微旋轉(zhuǎn)調(diào)節(jié)精度0.002°，方便調(diào)節(jié)待測樣品位置。

> POMater™ 自適應(yīng)隔震底座

自適應(yīng)減震底座設(shè)計，德國進(jìn)口隔震材料增強(qiáng)彈性支撐，實(shí)現(xiàn)不同程度的剛性硬度和承載范圍，并有效過濾環(huán)境中的震動源干擾，確保探針末端和樣品的Pad穩(wěn)定接觸，提升測試的穩(wěn)定性。