X射線鍍層測厚儀 AXIOM鍍層測厚儀是基于X射線熒光光譜分析技術(shù)，該技術(shù)已被普遍認(rèn)可并且得到廣泛應(yīng)用，可以在極少甚至無需樣品制備的情況下提供易于操作、快速和無損的分析。可分析固體和液體，元素范圍包括從元素周期表中的21Ti到92U 。X射線鍍層測厚儀 AXIOM配備超高分辨率的探測器，是檢測超薄鍍層和痕量級元素成分的理想儀器。

 X射線鍍層測厚儀 

STARK系列用于首飾及合金中的金屬元素分析、金屬鍍層厚度測量專為珠寶首飾行業(yè)定制的檢測儀器。

    貴金屬是制造首飾的基礎(chǔ)物質(zhì)，同時(shí)也普遍應(yīng)用在高技術(shù)產(chǎn)業(yè)中，如電子和醫(yī)藥領(lǐng)域。貴金屬的產(chǎn)品周期包括從礦石開采原材料、通過專門的復(fù)雜加工技術(shù)成型直到回收處理。

在制造時(shí)尚首飾時(shí)，人們往往采用便于加工的材料，如黃銅、鋅合金或鋼。根據(jù)視覺的要求，然后再用裝飾性的金屬涂層進(jìn)行覆蓋。通常使用X射線熒光法可以快速、無損和準(zhǔn)確的測量。

一、功能：

1、采用X射線熒光光譜法：無損測量金屬鍍層、覆蓋層厚度，測量方法滿足GB/T 16921-2005標(biāo)準(zhǔn)（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）。

2、鍍層元素范圍：鈦～鈾，包含常見的金、鎳、銅、銀、錫、鋅、鉻、鈀等。

3、可測量厚度范圍：Ti鈦—U鈾

4、鍍層層數(shù)：多至5層。

5、測量點(diǎn)尺寸：圓形測量點(diǎn)，直徑約0.2-0.8毫米。

6、測量時(shí)間：通常60秒-180秒。

7、樣品*大尺寸：330 x 200 x 170 mm (長x寬x高)。

8、測量誤差：通常小于5%，視樣品具體情況而定。

9、可測厚度范圍：通常0.01微米到30微米，視樣品組成和鍍層結(jié)構(gòu)而定。

10、同時(shí)定量測量8個(gè)元素。

11、定性鑒定材料達(dá)20個(gè)元素。

X射線鍍層測厚儀 STARK系列參數(shù)