白光共聚焦顯微鏡結合了高分辨率三維立體成像顯微鏡和光學顯微鏡兩者的優(yōu)點。它為您提供在微米尺度定量研究材料表面形貌的全新可能性。

儀器簡介：
 

　　白光共聚焦顯微鏡結合了高分辨率三維立體成像顯微鏡和光學顯微鏡兩者的優(yōu)點。它為您提供在微米尺度定量研究材料表面形貌的全新可能性。
 

　　瑞士CSM儀器公司三十年來致力于為材料、物理、機械工作者提供先進、精準、全面的材料機械性質測試儀器、分析咨詢以及測試服務。我們的主要產(chǎn)品包括：
 

　　測量材料硬度和彈性模量的納米級、微米級儀器化壓入測試儀(納米壓痕儀, 顯微壓痕儀)；
 

　　界定膜基結合強度、薄膜抗劃擦能力的納米級、微米級、大載荷劃痕測試儀 (Scratch tester) ；
 

　　包括真空、高溫以及線性往復運動等選項的摩擦磨損測試儀、納米摩擦儀 (摩擦磨損試驗機 ；
 

　　簡便易用的膜厚測試儀；
 

　　用于三維成像表征材料表面形貌的原子力顯微鏡 (AFM) 和白光共聚焦顯微鏡 (Confocal Microscope)
 

　　主要特點：
 

　　可與CSM各種微米尺度測量模塊結合使用，以分析微米級劃痕和微米級壓痕的三維表面形貌
 

　　非接觸式測量，*無損測量
 

　　XY大范圍掃描(使用CSM標準操作平臺)
 

　　Z方向寬掃描范圍 (范圍 大至400 微米)
 

　　精確的二維輪廓，三維成像和表面粗糙度測量
 

　　可以在透明的材料表面進行成像
 

　　粗糙或光滑表面成像
 

　　Z方向掃描范圍的可有多種選擇