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Apreo S Hivac

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ThermoScientificApreoSEM具有泛地適用性,可以在最短時(shí)間內(nèi)為材料研究人員提供的成像質(zhì)量

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Thermo Scientific™ Apreo SEM 具有泛地適用
性,可以在最短時(shí)間內(nèi)為材料研究人員提供的成
像質(zhì)量。
當(dāng) Apreo 的電子束打開,形貌和成分襯度可以同時(shí)被鏡筒內(nèi)探測系統(tǒng)
呈現(xiàn):無需繁瑣操作,即可快速探索并獲取樣品各方面信息。在高放大
倍率下,Apreo 的長工作距離(如 10mm 分析工作距離)也能表現(xiàn)出
杰出的分辨性能。即使在絕緣、電子束敏感或磁性的材料上,Apreo的
用戶界面也可以高效地引導(dǎo)操作者獲得表征該納米結(jié)構(gòu)的參數(shù)條
件。 Apreo 能在短時(shí)間內(nèi)解決錯(cuò)綜復(fù)雜的研究問題,適用于需要多功
能以及多用戶操作的應(yīng)用場合。
Apreo 是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺(tái),其創(chuàng)新的末級(jí)
透鏡設(shè)計(jì),絲毫不會(huì)降低對(duì)磁性樣品的分辨能力。 靜電式末級(jí)透鏡
(Apreo C 和 Apreo S)能夠?qū)崿F(xiàn)鏡筒內(nèi)多種信號(hào)的同時(shí)探測和高分辨
率,而 Apreo S 則結(jié)合靜電、浸沒式磁場的復(fù)合透鏡以進(jìn)一步提高低電壓下
的分辨率,在 1 kV 加速電壓下的分辨率為 1.0 nm,不需要電子束減速。通過
將浸沒式磁透鏡和靜電透鏡組合還可以實(shí)現(xiàn)的信號(hào)過濾功能。
Apreo 擁有透鏡內(nèi)背散射探測器 T1,其位置緊靠樣品,確保在較短的時(shí)間
內(nèi)獲得量的采集信號(hào)。與其他背散射探測器不同,這種快速的探測器在
導(dǎo)航時(shí)、傾斜時(shí)或工作距離很短時(shí)能夠始終保持良好的材料襯度。在表征敏
感樣品時(shí),探測器的性能尤為突出,即使電流低至幾 pA,它也能提供
清晰的背散射圖像。Apreo S 復(fù)合末級(jí)透鏡通過能量過濾實(shí)現(xiàn)高質(zhì)量的材料
襯度以及絕緣樣品的無電荷成像,進(jìn)一步提高了 T1 BSE 探測器的使用價(jià)
值。Apreo 還提供了受歡迎的選配探頭來補(bǔ)充其探測能力,例如定向背散射
探測器(DBS)、STEM 3+ 和低真空氣體分析探測器 (GAD)。所有這些探
測器都擁有無二的軟件控制分割功能,以便根據(jù)需求選擇價(jià)值的樣
品信息
未找到相應(yīng)參數(shù)組,請(qǐng)于后臺(tái)屬性模板中添加

一、電鏡技術(shù)參數(shù):

1電子光學(xué)

1.1電子槍類型:高分辨肖特基場發(fā)射電子槍

1.2加速電壓:200V-30kV

1.3電子著陸能量:20eV-30keV

*1.4束流大小:1pA-400nA連續(xù)可調(diào),保證能譜高效工作

1.5透鏡(物鏡)幾何結(jié)構(gòu):60°物鏡幾何結(jié)構(gòu):支持傾斜較大的樣品(不規(guī)則樣品)

*1.6兼容磁性樣品

1.7光闌:自加熱物鏡光闌

1.8自動(dòng)烘烤、自動(dòng)啟動(dòng)、無需機(jī)械合軸

1.9 減速樣品臺(tái)

 

2分辨率

2.1高真空分辨率(STEM掃透模式):0.6nm@30kV 

2.2高真空分辨率(SE二次電子):0.7nm@15kV

2.3高真空分辨率(SE二次電子):0.8nm@1kV(樣品臺(tái)減速)

2.4高真空分辨率(SE二次電子):1.0nm@1kV(不開樣品臺(tái)減速)

2.5 10mm分析工作距離分辨率:1.0nm@1kV

 

3探測系統(tǒng)

3.1 鏡筒內(nèi)BSE探頭(T1)

3.2 鏡筒內(nèi)SE探頭(T2)

3.3 鏡筒內(nèi)探測器 (T3)

3.4 常規(guī)SE探頭 (ETD)

3.5 紅外CCD(觀察樣品臺(tái)高度)

3.6 Nav-Cam智能導(dǎo)航相機(jī)

 

4真空系統(tǒng)

4.1泵的組成:1個(gè)PVP渦旋泵+1個(gè)分子泵+2個(gè)離子泵

*4.2抽真空時(shí)間:≤ 3.5 分鐘

 

5樣品倉

*5.1樣品倉內(nèi)徑:340mm

5.2接口:總共12個(gè),可接能譜3個(gè)(1個(gè)35°,2個(gè)平行180°)

 

6樣品臺(tái)

6.1 五軸對(duì)中馬達(dá)樣品臺(tái),行程:X=110 mm,Y=110 mm,Z=65 mm

*6.2 傾斜Tilt(°):-15 ~ +90,旋轉(zhuǎn)Rotation(°):360°連續(xù)

6.3 樣品尺寸:可沿 X、 Y 軸旋轉(zhuǎn)時(shí)直徑為 122 mm,樣品高度 距共心點(diǎn) 85mm

6.4 分析工作距離:10mm

*6.5 多功能樣品臺(tái):多用途標(biāo)準(zhǔn)支架,以方式直接安裝到載物臺(tái),最多可支持 18 個(gè)標(biāo)準(zhǔn)樣品臺(tái) (Ø12 mm)、3 個(gè)預(yù)先傾斜的樣品臺(tái)、切片樣品和不需要工具來安裝樣品

 

7軟件

7.1圖像輸出分辨率:65000x65000像素,8/16/24位深度BMP、JPG

7.2光柵掃描:駐留時(shí)間25ns到25ms/像素

*7.3智能掃描和漂移補(bǔ)償:SmartSCAN(256 幀平均或積分、線積分和平均法、隔行掃描),DCFI(漂移補(bǔ)償幀積分)

7.4控制:手動(dòng)/自動(dòng)控制亮度/對(duì)比度

7.5掃描方式:正常掃描、縮小光柵、定點(diǎn)、線掃描、掃描旋轉(zhuǎn)、傾斜校正

*7.6顯示方式和探測器通道數(shù)量:單幅或4幅圖像實(shí)時(shí)顯示,標(biāo)準(zhǔn)4通道,任意兩個(gè)探測器的輸入可混合

7.7配備Map3大視野關(guān)聯(lián)軟件

 

二、能譜儀參數(shù):

技術(shù)指標(biāo)

1、(*)能譜探測器:采用CMOS內(nèi)置的Si3N4窗新型SDD探測器窗口,堅(jiān)固耐用,晶體有效活區(qū)面積30mm2,X射線信號(hào)透過率比傳統(tǒng)的聚合物材料提高35%以上。

2、(*)Si3N4新型窗口耐高壓大于8個(gè)大氣壓, 耐高溫大于650攝氏度,耐酸堿腐蝕,可等離子直接清洗。

3、(*) 脈沖譜儀處理板集成在探測器內(nèi),無需獨(dú)立的譜儀箱,能譜儀硬件除了探測器和計(jì)算機(jī)無需其他部件。

4、分析元素范圍:Be4~Am95

5、(*)能量分辨率(Mn-Ka):優(yōu)于127eV, 嚴(yán)格依照ISO15632國際標(biāo)準(zhǔn)測量

6、優(yōu)異的低能端分辨率: Al Lα to Al Kα 峰比率1:1

7、(*) 輸入計(jì)數(shù)率 200CPS,輸出計(jì)數(shù)率85CPS。

8、在0~200kcps范圍內(nèi)的分辨率穩(wěn)定性:> 90%

9、(*)能量分辨率和死時(shí)間實(shí)時(shí)顯示。

用途:

場發(fā)射掃描電鏡為材料研究和材料表征的設(shè)備之一。它利用電子和物質(zhì)的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息,如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。主要用于高分子、聚合物及鋰電池材料的微觀形貌標(biāo)準(zhǔn)及其成分分析。具備樣品表面微觀形貌觀測和表面元素成分點(diǎn)、線、面分析,適合分析泛的樣品范圍,從傳統(tǒng)的金屬材料(包含磁性材料)、斷口和拋光斷面,到鋰電池相關(guān)的正負(fù)極材料的微區(qū)形貌、成分和相分布分析。

 

工作環(huán)境:

1、電壓:100-240V(-6%,+10%)

2、工作溫度:20±3 ℃

3、 相對(duì)濕度:< 80%

4 、震動(dòng)和磁場需由廠家裝機(jī)前測試并給出報(bào)告


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