Advance是中國(guó)臺(tái)灣有名的光發(fā)射顯微鏡制造商，核心技術(shù)來自日本的Hamamatsu，其原理是利用光子輻射來探測(cè)，快速找到失效的缺陷部位；主要應(yīng)用于：集成電路元器件失效分析、無損失效分析、細(xì)微缺陷探測(cè)

Advance是中國(guó)臺(tái)灣有名的光發(fā)射顯微鏡制造商，核心技術(shù)來自日本的Hamamatsu，其原理是利用光子輻射來探測(cè)，快速找到失效的缺陷部位；主要應(yīng)用于：集成電路元器件失效分析、無損失效分析、細(xì)微缺陷探測(cè)。

1. EMMI光發(fā)射顯微鏡是一種效率的失效分析工具，提供高靈敏度非破壞性的故障定位方式，可偵測(cè)和定位非常微弱的發(fā)光(可見光及近紅外光)，捕捉各種元件缺陷或異常所產(chǎn)生的漏電流可見光；
2. EMMI偵測(cè)對(duì)應(yīng)故障種類涵蓋ESD、Latch up、I/O Leakage、Junction Defect、Hot Electrons、Oxide Current Leakage等所造成的異常；
3. EMMI對(duì)漏電流的偵測(cè)可達(dá)微安級(jí)別。