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IPS探針臺(tái)

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IPS探針臺(tái)產(chǎn)品特點(diǎn)介紹


應(yīng)用導(dǎo)向 - 豐富的KitStart測試組件適用于多種的測試要求。


模塊化設(shè)計(jì) - 多種模塊化配件可供選擇，允許用戶根據(jù)應(yīng)用需求無縫升級(jí)探針臺(tái)系統(tǒng) 。


高性價(jià)比 - 用戶可根據(jù)需求配置的高性價(jià)比探針臺(tái)系統(tǒng)。


的X-Y機(jī)構(gòu) - 精密的微分頭定位器加平臺(tái)空氣軸承底座，可速調(diào)整并精確定位。


      IPS探針臺(tái)為KeyFactor公司研發(fā)的高性能探針臺(tái)系統(tǒng)，可滿足低噪聲/干擾的測試需求。使用IPS探針臺(tái)系統(tǒng)以及合適的配件，用戶可輕松松進(jìn)行漏電于小于5fA，寄生電容小于10fF的測試測量應(yīng)用。

      微弱漏電測試的主要配件為FemtoProbe或CPA-10同軸探針。該產(chǎn)品設(shè)計(jì)有同軸屏蔽層，可限度的包裹測試信號(hào)，減少漏電和周圍電場的干擾。除此之外，我們還提供高性能的屏蔽箱，可保護(hù)測試系統(tǒng)在微弱漏電測試時(shí)不受靜電聲及交流電場的干擾。

<5fA漏電流，<10fF寄生電容


      如果您項(xiàng)目啟動(dòng)時(shí)僅需滿足基礎(chǔ)的I-V、C-V測試要求，IPS探針臺(tái)也將是您良好的項(xiàng)。模塊化的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，讓IPS探針臺(tái)系統(tǒng)或輕松進(jìn)行升級(jí)。用戶僅需選擇相應(yīng)的升級(jí)模塊，并進(jìn)行簡單的安裝即可。設(shè)備無須退回原廠進(jìn)行修改，用戶不用因?yàn)樯?jí)而停止現(xiàn)有的實(shí)驗(yàn)。

      常用的基礎(chǔ)I-V/C-V配置，通常包含了IPS-AS-Stereo探針臺(tái)、S10系列探針夾具以及DTP100/DCP100定位器等配置。

基礎(chǔ)的I-V/C-V配置


      IPS探針臺(tái)為多應(yīng)用平臺(tái)，不僅僅可實(shí)現(xiàn)I-V/C-V測試。選擇不同的配件，用戶也可將系統(tǒng)設(shè)置為滿足微測測試應(yīng)用的探針臺(tái)系統(tǒng)。

      基礎(chǔ)的微波測試系統(tǒng)包含了1套IPS-AS-Stereo探針臺(tái)（包含兩個(gè)校準(zhǔn)樣品臺(tái)），2套DCP100定位器，2套R(shí)FH100微波測試探針夾具，2套微波測試探針及組件（探針為定制產(chǎn)品）等等。

      由于微波測試探針價(jià)格較貴，為了更好地保護(hù)和使用探針，我們?yōu)樵撓到y(tǒng)研發(fā)和高剛性的機(jī)械結(jié)構(gòu)。同時(shí)，DCP100等定位器，使用了振動(dòng)隔離式操作設(shè)計(jì)，有效地減少操作振動(dòng)、提升了探針與樣品的對準(zhǔn)精度和效率。

射頻/微波測試配置


      為了保障測試安裝，IPS探針臺(tái)高功率配置配套帶有Interlock的EMIShiled屏蔽箱或安全光幕。這些配置可保障用戶的使用安全，避免發(fā)生觸電等人身傷害。我們還研發(fā)設(shè)計(jì)了防電弧結(jié)構(gòu)，消除高壓測試電弧。

      IPS-HP的基礎(chǔ)配置，可應(yīng)用于高達(dá)3kV高壓和40A大電流的測試應(yīng)用當(dāng)中。若您需要5kV等更高壓的應(yīng)用，我們也可為您配置相應(yīng)的測試系統(tǒng) 。

高功率測試配置


      KeyFactor公司研發(fā)了多款加熱樣品臺(tái)系統(tǒng)，可適用于IPS探針臺(tái)系統(tǒng)。的配置為RT至200℃的加熱樣品臺(tái)，溫度穩(wěn)定性為0.1℃。我們也提供高至300℃或800℃的定制型加熱系統(tǒng)。

      我們的加熱樣品臺(tái)系統(tǒng)，通常由三部分組成：可加熱的樣品臺(tái)、TemPro溫控系統(tǒng)以及水冷循環(huán)系統(tǒng)（可選）。TemPro溫控控器配套了專用的溫控軟件，您可以通過電腦對樣品臺(tái)的溫度進(jìn)行監(jiān)視和控制。通過TemPro軟件，您也可實(shí)現(xiàn)功率可變的組合測試。

      我們的溫控系統(tǒng)為直流24V輸出，可保障用戶的使用安全，防止因設(shè)備故障產(chǎn)生觸電等人身傷害。同時(shí)，直流電器的使用，可有效地消除樣品臺(tái)因使用交流電器而產(chǎn)生的干擾。

可選加熱樣品臺(tái)

定制化服務(wù)，滿足光電器件的表征測試需求


      除了標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品，我們也為用戶提供定制化的服務(wù)。KeyFactor可為用戶提供專業(yè)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，定制產(chǎn)品結(jié)構(gòu)以適用于用戶的激光器、光纖或電磁場等配件，以滿足光電器件、納米機(jī)器人等的測試測量要求。

      若需要讓探針臺(tái)系統(tǒng)獲得超低漏電的測試環(huán)境，最關(guān)鍵的一步是須要讓探針臺(tái)與量測的儀表“合為一體”。即探針臺(tái)不會(huì)因其主要為金屬件構(gòu)造的特點(diǎn)，接收過多的靜電場和交流電場的干擾。這意味著我們在結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)上，需要對壓差、屏蔽以及接地上都需要有完善的解決方案。以上任意一點(diǎn)出現(xiàn)問題，探針臺(tái)都將接收到高于目標(biāo)值的干擾。有鑒于此，用戶自行搭建的系統(tǒng)，通常常都很難達(dá)到微弱漏電的測試要求。

      KeyFactor研發(fā)的三同軸樣品臺(tái)，為用戶省去復(fù)雜的配置工作，用戶僅須將測試電纜連接到樣品臺(tái)即可進(jìn)行超低漏電的測試。



三同軸樣品臺(tái)配置

產(chǎn)品功能介紹


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