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SimplePS探針臺(tái)

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SimplePS探針臺(tái)產(chǎn)品特點(diǎn)介紹


應(yīng)用導(dǎo)向 - KitStart配置，可提供基礎(chǔ)、同軸及三同軸測(cè)量套裝。


低預(yù)算、高品質(zhì) - 低預(yù)算配置里包含了完整的測(cè)量套裝：SimplePS機(jī)臺(tái)、DTP100定位器、S10探針夾具等等。


穩(wěn)定、小巧 - 全鋼材質(zhì)底座，確保產(chǎn)品小巧體積的同時(shí)，仍然保證了高穩(wěn)定性。


      常規(guī)的SimplePS包含基礎(chǔ)I-V/C-V測(cè)量配置、高精度I-V/C-V配置，最短交期為1周。該配置包含了1套SimplePS探針臺(tái)，2套DTP100定位器以、S10系列探針夾具以及測(cè)試探針。

      使用這套高可靠性的配置，用戶可輕松應(yīng)對(duì)30微米待測(cè)點(diǎn)尺寸的探針測(cè)試。SimplePS探針臺(tái)系列，根據(jù)不同的需求，可配置為漏電流小于10nA、10pA以及100fA的系列。我們提供貼心的配置服務(wù)，為用戶配置相應(yīng)精度等級(jí)的測(cè)試系列，節(jié)約用戶設(shè)備預(yù)算。

入門(mén)級(jí)配置，高性價(jià)比探針臺(tái)系統(tǒng)

     SimplePS探針臺(tái)為多應(yīng)用平臺(tái)，不僅僅可實(shí)現(xiàn)I-V/C-V測(cè)試。選擇不同的配件，用戶也可將系統(tǒng)設(shè)置為滿足微測(cè)測(cè)試應(yīng)用的探針臺(tái)系統(tǒng)。

     基礎(chǔ)的微波測(cè)試系統(tǒng)包含了1套SimplePS探針臺(tái)，2套DCP100定位器，2套R(shí)FH100微波測(cè)試探針夾具，2套微波測(cè)試探針及組件（探針為定制產(chǎn)品）等等。

     由于微波測(cè)試探針價(jià)格較貴，為了更好地保護(hù)和使用探針，我們?yōu)樵撓到y(tǒng)研發(fā)和高剛性的機(jī)械結(jié)構(gòu)。同時(shí)，DCP100等定位器，使用了振動(dòng)隔離式操作設(shè)計(jì)，有效地減少操作振動(dòng)、提升了探針與樣品的對(duì)準(zhǔn)精度和效率。



射頻/微波測(cè)試配置


      標(biāo)準(zhǔn)的SimplePS探針臺(tái)系統(tǒng)配置了4英寸的樣品臺(tái)。用戶也可根據(jù)實(shí)際要求，選擇6英寸、8英寸的樣品臺(tái)。

      標(biāo)準(zhǔn)的SimplePS探針臺(tái)尺寸為30*25cm。同時(shí)，我們也提供定制化設(shè)計(jì)服務(wù)，可為用戶提供更大的底座和定位器平臺(tái)空間以放置更多數(shù)量的定位器。

多款可選的樣品臺(tái)、可定制平臺(tái)尺寸

可選加熱樣品臺(tái)


      KeyFactor公司研發(fā)了多款加熱樣品臺(tái)系統(tǒng)，可適用于SimplePS探針臺(tái)系統(tǒng)。的配置為RT至200℃的加熱樣品臺(tái)，溫度穩(wěn)定性為0.1℃。我們也提供高至300℃或800℃的定制型加熱系統(tǒng)。

      我們的加熱樣品臺(tái)系統(tǒng)，通常由三部分組成：可加熱的樣品臺(tái)、TemPro溫控系統(tǒng)以及水冷循環(huán)系統(tǒng)（可選）。TemPro溫控控器配套了專用的溫控軟件，您可以通過(guò)電腦對(duì)樣品臺(tái)的溫度進(jìn)行監(jiān)視和控制。通過(guò)TemPro軟件，您也可實(shí)現(xiàn)功率可變的組合測(cè)試。

      我們的溫控系統(tǒng)為直流24V輸出，可保障用戶的使用安全，防止因設(shè)備故障產(chǎn)生觸電等人身傷害。同時(shí)，直流電器的使用，可有效地消除樣品臺(tái)因使用交流電器而產(chǎn)生的干擾。

      標(biāo)準(zhǔn)的SimplePS探針臺(tái)，在樣品移動(dòng)的功能上僅配置了樣品臺(tái)X-Y移動(dòng)定位功能?？紤]到往復(fù)定位的需求，我們也為用戶提供了提供了Z軸快速升降功能作為可選項(xiàng)之一。

      Z軸往復(fù)功能，讓用戶輕輕扳把操作把手，就可快速升/降樣品臺(tái)，用于探針與待測(cè)點(diǎn)的快速接觸與分離操作。使用方法：在進(jìn)行探針測(cè)試前，先扳動(dòng)把手升起樣品臺(tái)。然后定位好樣品的位置，最后操作探針扎到待測(cè)點(diǎn)上。測(cè)試完成后，先扳動(dòng)把手降下樣品臺(tái)，使樣品與所有探針同時(shí)分離后，再操作定位器Z軸，升高探針。該操作流程，可有效避免用戶因錯(cuò)誤操作壓壞探針，特別是價(jià)格較高的微波探針或同軸探針。

可選樣品臺(tái)Z軸快升功能

定制化服務(wù)，滿足光電器件的表征測(cè)試需求


      除了標(biāo)準(zhǔn)的產(chǎn)品，我們也為用戶提供定制化的服務(wù)。KeyFactor可為用戶提供專業(yè)的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，定制產(chǎn)品結(jié)構(gòu)以適用于用戶的激光器、光纖或電磁場(chǎng)等配件，以滿足光電器件、納米機(jī)器人等的測(cè)試測(cè)量要求。

      除了基的I-V/C-V測(cè)試套件，SimplePS也可輕松地升級(jí)為微弱漏電和高性能型探針臺(tái)。使用正確的配置，SimplePS探針臺(tái)可輕松達(dá)到小于10fA漏電流和小于10fF寄生電容的測(cè)試精度等級(jí)。

     微弱漏電測(cè)試的主要配件為FemtoProbe或CPA-10同軸探針。該產(chǎn)品設(shè)計(jì)有同軸屏蔽層，可限度的包裹測(cè)試信號(hào)，減少漏電和周?chē)妶?chǎng)的干擾。除此之外，我們還提供高性能的屏蔽箱，可保護(hù)測(cè)試系統(tǒng)在微弱漏電測(cè)試時(shí)不受靜電聲及交流電場(chǎng)的干擾。

高性能微弱電流配置

產(chǎn)品功能介紹


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