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膜厚測量儀F20

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F20系列是的臺式薄膜厚度測量系統(tǒng),只需按下一個按鈕,不到一秒鐘即可同時測量厚度和折射率

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  F20 系列是的臺式薄膜厚度測量系統(tǒng),只需按下一個按鈕,不到一秒鐘即可同時測量厚度和折射率。設置也非常簡單, 只需把設備連接到您運行Windows™系統(tǒng)的計算機USB端口, 并連接樣品平臺就可以了。 F20系列不同型號的選擇,主要取決于您需要測量的薄膜厚度(確定所需的波長范圍)。

型號厚度范圍*波長范圍
F2015nm - 70µm380-1050nm
F20-EXR15nm - 250µm380-1700nm
F20-NIR100nm - 250µm950-1700nm
F20-UV1nm - 40µm190-1100nm
F20-UVX1nm - 250µm190-1700nm
F20-XT0.2µm - 450µm1440-1690nm

*取決于薄膜種類


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