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XAD-200多功能全自動(dòng) XAD-200全自動(dòng)鍍層測(cè)厚儀

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 公司名稱(chēng) 蘇州邦鑫電子技術(shù)有限公司
  • 品牌
  • 型號(hào) XAD-200多功能全自動(dòng)
  • 所在地 蘇州市
  • 廠商性質(zhì) 其他
  • 更新時(shí)間 2024/3/1 16:29:43
  • 訪問(wèn)次數(shù) 76

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XAD-200是一款上照式全元素光譜分析儀,可測(cè)量納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚,也可滿(mǎn)足微區(qū)RoHS檢測(cè)及多元素成分分析,的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題

詳細(xì)信息 在線詢(xún)價(jià)

XAD-200是一款上照式全元素光譜分析儀,可測(cè)量納米級(jí)厚度、微小樣品和凹槽異形件的膜厚,也可滿(mǎn)足微區(qū)RoHS檢測(cè)及多元素成分分析,的算法及解譜技術(shù)解決了諸多業(yè)界難題。

被廣泛用于各類(lèi)產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。 

  • 微小樣品檢測(cè):最小測(cè)量面積0.008mm²

  • 變焦裝置算法:可改變測(cè)量距離測(cè)量凹凸異形樣品,變焦距離可達(dá)0-90mm

  • 自主研發(fā)的EFP算法:AI(3)-U(92)元素的成分分析,Li(3)-U(92)元素的涂鍍層檢測(cè),多層多元素,甚至有同種元素在不同層也可精準(zhǔn)測(cè)量

  • 的解譜技術(shù):減少能量相近元素的干擾,降低檢出限

  • 高性能探測(cè)器:SDD硅漂移窗口面積20/50mm²探測(cè)器

  • X射線裝置:微焦加強(qiáng)型射線管搭配聚焦裝置

  • 上照式設(shè)計(jì):實(shí)現(xiàn)對(duì)超大樣品或者密集點(diǎn)位進(jìn)行快、準(zhǔn)、穩(wěn)高效率測(cè)量

  • 可編程自動(dòng)位移:選配自動(dòng)平臺(tái),X210*Y230*Z145mm行程內(nèi)無(wú)人值守自動(dòng)測(cè)量

  • 多準(zhǔn)直器自動(dòng)切換


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