日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過(guò)新式簡(jiǎn)單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長(zhǎng)年來(lái)對(duì)高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能滿足多種需求的強(qiáng)力分析工具之一。

性能特點(diǎn)

EPMA快速啟動(dòng)

點(diǎn)擊任何一點(diǎn)，就能開始預(yù)設(shè)的EDS定性、定量分析或WDS分析。
用戶菜單（User recipes）

能保存或調(diào)用經(jīng)常使用的各種不同類型的樣品分析條件，菜單中包括了全部的電子光學(xué)參數(shù)、EDS和WDS參數(shù)在內(nèi)。
EDS 的性能

數(shù)字化脈沖處理器
全譜面分布(WD/ED, 樣品臺(tái)和電子束掃描)
無(wú)風(fēng)扇SDD (選配)
可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無(wú)縫、舒適的分析環(huán)境。

應(yīng)用領(lǐng)域

電子探針可以對(duì)試樣中微小區(qū)域（微米級(jí)）的化學(xué)組成進(jìn)行定性或定量分析，可以進(jìn)行點(diǎn)、線掃描（得到層成分分布信息）、面掃描分析（得到成分面分布圖像）。還能全自動(dòng)進(jìn)行批量定量分析。由于電子探針技術(shù)具有操作迅速簡(jiǎn)便、實(shí)驗(yàn)結(jié)果的解釋直截了當(dāng)、分析過(guò)程不損壞樣品、測(cè)量準(zhǔn)確度較高等優(yōu)點(diǎn)，在冶金、地質(zhì)、電子材料、生物、醫(yī)學(xué)、考古以及其它領(lǐng)域中得到日益**地應(yīng)用，是礦物測(cè)試分析和樣品成分分析的重要工具。