NanoMap-D掃描三維表面輪廓儀是用于表面結(jié)構(gòu)測(cè)量和表面形貌分析的一款測(cè)量計(jì)量型設(shè)備既可以
用于科學(xué)研究，也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測(cè)。
1、三維表面結(jié)構(gòu)：粗糙度,波紋度，表面結(jié)構(gòu)，缺陷分析，晶粒分析等
2、二維圖像分析：距離,半徑,斜坡,格子圖, 輪廓線等
3、表界面測(cè)量：透明表面形貌,薄膜厚度，透明薄膜下的表面
4、薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量
5、劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定

NanoMap-D掃描三維表面輪廓儀是用于表面結(jié)構(gòu)測(cè)量和表面形貌分析的一款測(cè)量計(jì)量型設(shè)備。既可以
用于科學(xué)研究，也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測(cè)。 
1、三維表面結(jié)構(gòu)：粗糙度,波紋度，表面結(jié)構(gòu)，缺陷分析，晶粒分析等 
2、二維圖像分析：距離,半徑,斜坡,格子圖, 輪廓線等 
3、表界面測(cè)量：透明表面形貌,薄膜厚度，透明薄膜下的表面 
4、薄膜和厚膜的臺(tái)階高度測(cè)量 
5、劃痕形貌，摩擦磨損深度、寬度和體積定量測(cè)量 
6、微電子表面分析和MEMS表征

主要特點(diǎn)：

高精度 
· 的縱向分辨率：0.1 nm （ 接觸式）；2 nm（光學(xué)非接觸式） 
· 對(duì)周圍環(huán)境和光源的強(qiáng)適應(yīng)性 
· 沒有機(jī)械過(guò)濾 
寬闊的垂直測(cè)量范圍 
· 多種選擇光學(xué)頭及接觸式 
· 縱向掃描范圍 300 to 3900 μm 
· 圖像“縫合”技術(shù)使再大的表面也能呈現(xiàn)在一幅圖像內(nèi) 
試用于幾乎所有的表面 
· 透明，不透明，反射光強(qiáng)等多種材料 
· 垂直臺(tái)階，高寬深比，隆起，孔洞 
· 脆性的材料，軟材料，柔性材料表面 
· 尖銳的，堅(jiān)硬的，磨損的表面 
適應(yīng)性強(qiáng) 
· 白光光源，人體安全設(shè)計(jì)，長(zhǎng)壽命白光LED 免維護(hù)?？梢杂糜诟鞣N環(huán)境的實(shí)驗(yàn)室，甚至工業(yè)生產(chǎn)環(huán)境。 
· 接觸式輪廓儀和非接觸式輪廓儀技術(shù)的*結(jié)合 
· 接觸式輪廓儀針尖掃描采用精確的壓電陶瓷驅(qū)動(dòng)掃描模式，三維掃描范圍從10μm X 10μm 到500μm X 500μm。樣品臺(tái)掃描使用高級(jí)別光學(xué)參考平臺(tái)能使長(zhǎng)程掃描范圍到50mm。 
· 在掃描過(guò)程中結(jié)合彩色光學(xué)照相機(jī)可對(duì)樣品直接觀察 
· 針尖掃描采用雙光學(xué)傳感器，同時(shí)擁有寬闊測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍（zui大至500μm）及亞納米級(jí)垂直分辨率　（zui?。?/span>.１nm ） 
· 軟件設(shè)置恒定微力接觸（0.1 to 100 [mg]）

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