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簡介：BM-44X.9相襯顯微鏡又稱相差顯微鏡，針對透明樣本因光暈而難以被觀測到細微結(jié)構(gòu)的問題開發(fā)設(shè)計。該系列產(chǎn)品以其出色的對比度和齊全的附件，成為實驗室儀器的。人性化的設(shè)計減輕疲勞，適合長時間工作。

簡介：倒置金相顯微鏡采用優(yōu)良的無限遠光學(xué)系統(tǒng)與模塊化的功能設(shè)計理念，可以方便升級系統(tǒng)，實現(xiàn)偏光觀察、暗場觀察等功能。緊湊穩(wěn)定的高剛性主體，充分體現(xiàn)了顯微鏡操作的防振要求

簡介：102XB工業(yè)金相顯微鏡是針對半導(dǎo)體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)、冶金工業(yè)需求而開發(fā)的。作為高級金相顯微鏡用戶在使用時能夠體驗其性能，可廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、FPD、電路封裝、電路基板、材料、鑄件/...

簡介：WF10X（Φ22）大視野目鏡，平場無限遠系統(tǒng)金相物鏡。①采用了反射和透射兩種照明形式，并配有偏光裝置。②在反射光照明下可進行明暗場和偏光觀察，又可在透射光照明下作明場觀察。③可選配攝影裝置…

簡介：廣泛應(yīng)用于應(yīng)用于教學(xué)科研金相分析、半導(dǎo)體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領(lǐng)域。也可應(yīng)用于電子、光纖、紡織、印刷及微顆粒、粉末、同時也可用于食品安全評估、醫(yī)學(xué)研究地質(zhì)研究等。是科研、教學(xué)、生...

簡介：廣泛應(yīng)用于應(yīng)用于教學(xué)科研金相分析、半導(dǎo)體硅晶片檢測、地址礦物分析、精密工程測量等領(lǐng)域。也可應(yīng)用于電子、光纖、紡織、印刷及微顆粒、粉末、同時也可用于食品安全評估、醫(yī)學(xué)研究地質(zhì)研究等。是科研、教學(xué)、生...

簡介：采用的無限遠雙重色差校正光學(xué)技術(shù);適用于金屬鋼鐵,化工材料行業(yè)科研,質(zhì)檢和質(zhì)控部門等研究，反射光可實現(xiàn)明場,暗場,偏光,微分干涉,熒光觀察功能

簡介：適用于金屬鋼鐵,化工材料行業(yè)科研,質(zhì)檢和質(zhì)控部門等研究，反射光可實現(xiàn)明場,暗場,偏光,微分干涉,熒光觀察功能，透射光可實現(xiàn)明場,暗場,偏光,微分干涉觀察功能，可接CCD相機配合圖像分析軟件進行材料...

簡介：12XB-PC可以將明場觀察下無法檢測的細微高低差，轉(zhuǎn)化為高對比度的明暗差并以立體浮雕形式表現(xiàn)出來，如LCD導(dǎo)電粒子，精密磁盤表面劃痕等。

簡介：4XC對于外形不規(guī)則或較大的試樣也可進行顯微鏡觀察，倒置式的儀器設(shè)計，操作時試樣觀察表面向下，并與工作臺面重合，而對試樣的高度和平行度無要求，適合于外形不規(guī)則或較大的試樣。