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簡介：

簡介：

簡介：59XC透反射偏光顯微鏡是地質(zhì)、礦產(chǎn)、冶金等部門和相關(guān)高等院校的專業(yè)實(shí)驗(yàn)儀器之一，用于不透明物體或半透明物體，可以同時(shí)采用透射光和反射光觀察

簡介：金相顯微鏡主要用于鑒定和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，它是金屬學(xué)研究金相的重要儀器，是工業(yè)部門鑒定產(chǎn)品質(zhì)量的關(guān)鍵設(shè)備；本儀器廣泛用于機(jī)械工業(yè)的金相組織觀察分析，地礦部門對(duì)礦物的分析研究

簡介：6XB正置金相顯微鏡適用于對(duì)不透明物體進(jìn)行顯微觀察。本儀器配置落射照明器、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)、大視野目鏡和內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，操作方便等特點(diǎn)

簡介：4XC金相顯微鏡主要用于鑒別和分析金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織，為金屬物理學(xué)研究金相的重要工具。本儀器配有攝影裝置，可拍攝金相圖譜所需的整倍數(shù)照片，適用于廠礦企業(yè)、高等院校及科研等部門。

簡介：4XB金相顯微鏡用于鑒別和分析各種金屬和合金的組織結(jié)構(gòu)，可廣泛應(yīng)用在工廠或?qū)嶒?yàn)室進(jìn)行鑄件質(zhì)量的鑒定，原材料的檢驗(yàn)或?qū)Σ牧咸幚砗蠼鹣嘟M織的研究分析等。

簡介：大平臺(tái)檢測顯微鏡是專為IT行業(yè)大面積集成電路，晶片的質(zhì)量檢測而設(shè)計(jì)開發(fā)制造的，主體為正置式，三目鏡筒，比傳統(tǒng)的顯微鏡更適合于觀察。

簡介：6XB正置金相顯微鏡適用于對(duì)不透明物體進(jìn)行顯微觀察。本儀器配置落射照明器、長距平場消色差物鏡(無蓋玻片)、大視野目鏡和內(nèi)置偏光觀察裝置，具有圖像清晰、襯度好，操作方便等特點(diǎn)

簡介：正置(明暗場)芯片檢查顯微鏡廣泛的應(yīng)用于透明，半透明或不透明物質(zhì)，比如金屬陶瓷、電子芯片、印刷電路、LCD基板、薄膜、纖維、顆粒狀物體、鍍層等材料表面的結(jié)構(gòu)、痕跡，都能有很好的成像效果。