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簡介：TRIFT-VnanoTOFII（三次聚集飛行時間）二次離子質(zhì)譜儀是超靈敏的表面分析技術(shù)，可檢測表面分子成分和分布，元素及其同位素。所有元素和同位素，包括氫都可以用飛行時間二次離子質(zhì)譜分析。由初級...

簡介：DEMS電化學(xué)質(zhì)譜儀微分電化學(xué)質(zhì)譜（DifferentialElectrochemicalMassSpectrometryDEMS）是將電化學(xué)和質(zhì)譜技術(shù)相結(jié)合而發(fā)展起來的一種現(xiàn)代電化學(xué)現(xiàn)場測試手段...

簡介：PR-90密封氣體分析質(zhì)譜儀（HPR-90SealedPackageGasAnalyserwithIntegralPackageCracker）是*的、專門的定制系統(tǒng)，分析燈泡及其它密封件中的填充...

簡介：20年前，Hiden在國際期刊《PhysicsToday》今日物理學(xué)雜志發(fā)布了HPR-80腐蝕性氣體分析質(zhì)譜儀，初期主要應(yīng)用于半導(dǎo)體行業(yè)的特氣檢測，如毒性氣體AsH3、B2H6、PH3等，強(qiáng)腐蝕性...

簡介：SIMS工作站（SIMSWorkstation－acompleteSIMSAnalysisFacility），綜合UHV/SIMS設(shè)備，進(jìn)行高級的表面分析。可靠的、普遍適用的SIMS分析工作站。

簡介：HidenTOF-qSIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜工作站設(shè)計用于多種材料的表面分析和深度剖析應(yīng)用，包括聚合物，藥物，超導(dǎo)體，半導(dǎo)體，合金，光學(xué)和功能涂層以及電介質(zhì)，檢測限低于1ppm。

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