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簡介：等離子質(zhì)譜儀（NexION300ICP-MS）為您提供ICP-MS*的穩(wěn)定性，靈活性與出色性能，是ICP-MS發(fā)展**次真正意義的革命性突破。

簡介：TRIFT-VnanoTOFII（三次聚集飛行時間）二次離子質(zhì)譜儀是超靈敏的表面分析技術(shù)，可檢測表面分子成分和分布，元素及其同位素。所有元素和同位素，包括氫都可以用飛行時間二次離子質(zhì)譜分析。由初級...

簡介：SIMS工作站（SIMSWorkstation－acompleteSIMSAnalysisFacility），綜合UHV/SIMS設(shè)備，進行高級的表面分析。可靠的、普遍適用的SIMS分析工作站。

簡介：HidenTOF-qSIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜工作站設(shè)計用于多種材料的表面分析和深度剖析應(yīng)用，包括聚合物，藥物，超導(dǎo)體，半導(dǎo)體，合金，光學(xué)和功能涂層以及電介質(zhì)，檢測限低于1ppm。

簡介：

簡介：飛行時間二次離子質(zhì)譜（TOF-SIMS）是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)?？梢詮V泛應(yīng)用于物理，化學(xué)，微電子，生物，制藥，空間分析等工業(yè)和研究方面。TOF-SIMS可以提供表面，薄膜，界面以至于三維樣品...

簡介：LTQFT線性離子阱回旋共振質(zhì)譜儀2004年獲得世界研究與發(fā)明技術(shù)zui高獎（R&D100Award）。在真正液相色譜/質(zhì)譜在線連接的工作狀態(tài)下，得到超高分辨率、精確質(zhì)量數(shù)和多級質(zhì)譜分析數(shù)據(jù)。*的...

簡介：雙聚焦ICP-MS等離子質(zhì)譜儀是一種基于Mattauch-Herzog設(shè)計的雙聚焦扇形場質(zhì)譜儀，它擁有全新的離子光學(xué)和*的檢測器技術(shù)，是目前市場上銷售的*的從6Li—238U全質(zhì)譜范圍同時測量的無...

簡介：熱電XSERIES2ICP-MS電感耦合等離子質(zhì)譜儀

簡介：NexION™300是ICP-MS歷**次在一臺儀器中同時提供簡單、方便的碰撞池和具有異常出色檢出能力的真正反應(yīng)池的創(chuàng)新儀器。擁有的通用池技術(shù)(UCT,UniversalCellTec...