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MAXIM 濺射中性粒子質(zhì)譜儀
面議1350簡介：MAXIM二次離子濺射中性粒子質(zhì)譜儀可分析二次陰、陽離子動態(tài)和中性粒子，所具備的的30°接受角可形成樣品粒子平面，應用于SIMS和SNMS的光學采樣。·光柵控制，增強深度分析能...
北京英格海德分析技術(shù)有限公司 會員等級: 產(chǎn)地：北京市我要詢價 -
SIMS Workstation 二次離子質(zhì)譜儀
面議1350簡介：二次離子質(zhì)譜儀適合做多層薄膜的深度分析,可以做元素成像和混合模式掃描，自動測量正、負和中性粒子。
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PTR3-TOF VOCs 和大氣自由基分析質(zhì)譜儀
面議1350簡介：IONICON是高分辨率、高靈敏度、實時在線的質(zhì)子傳遞反應飛行時間質(zhì)譜儀的，VOCs和大氣自由基分析質(zhì)譜儀對揮發(fā)性有機物進行實時在線定性及定量分析，用于直接測量氣體樣品中的痕量揮發(fā)性有機物。PTR...
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PTR-TOF 4000 高分辨率質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應飛行時間質(zhì)譜儀
面議1350簡介：小，輕，高分辨率的高分辨率質(zhì)子轉(zhuǎn)移反應飛行時間質(zhì)譜儀PTR-TOFMS檢測限：靈敏度：8000cps/ppbv分辨率：4500
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PTR-TOF 6000 X2 質(zhì)子傳遞反應飛行時間質(zhì)譜儀面議1350簡介：質(zhì)子傳遞反應飛行時間質(zhì)譜儀PTR-TOFMS檢測限：靈敏度：2500cps/ppbv分辨率：6500
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HALO 201 MBE 殘余氣體分析四極質(zhì)譜儀
面議1350簡介：儀器簡介：HALO201MBE分子束外延殘余氣體分析四極質(zhì)譜儀用于泄漏探測、趨勢分析、真空診斷的過程監(jiān)測和殘余氣體的分析。該分子束外延特定分析質(zhì)譜儀由兼容性材料組成，并能在分子束外延環(huán)境中長期使用...
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DECRA / ExQ RM 緊湊型在線質(zhì)譜儀
面議1350簡介：英國Hiden公司的DECRA/EXQRM緊湊型在線質(zhì)譜儀是為在常壓附近連續(xù)定量分析氣體/蒸氣的而設(shè)計；QGA定量分析軟件實時輸出定量數(shù)據(jù)。
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APi-TOF 大氣壓進樣飛行時間質(zhì)譜儀
面議1350簡介：大氣壓進樣飛行時間質(zhì)譜儀（APi-TOF）基于ioniTOF平臺和六極桿ION-GUIDES的同時檢測正負離子的新型大氣壓接口飛行時間質(zhì)譜儀。
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TOF-qSIMS 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀
面議1350簡介：HidenTOF-qSIMS飛行時間二次離子質(zhì)譜儀工作站設(shè)計用于多種材料的表面分析和深度剖析應用，包括聚合物，藥物，超導體，半導體，合金，光學和功能涂層以及電介質(zhì)，檢測限低于1ppm。TOF-qS...
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LAS 泄漏分析系統(tǒng) 在線質(zhì)譜分析方法
面議1350簡介：HidenLAS泄漏分析系統(tǒng)在線質(zhì)譜分析方法用于電池泄露，及其它小包裝樣品泄露測試。HidenLAS是自動化的，可在質(zhì)量控制或研發(fā)環(huán)境中輕松使用，并可用于分析中小型電池組件的密封性。
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