在電鏡觀察應(yīng)用中，要想獲得樣品的真實(shí)圖片，電鏡制樣技術(shù)至關(guān)重要。為加強(qiáng)技術(shù)交流，分享*、科學(xué)的制樣方法，6月30日，廣東工業(yè)大學(xué)分析測試中心、廣州領(lǐng)拓儀器科技有限公司、徠卡顯微系統(tǒng)（上海）貿(mào)易有限公司聯(lián)合舉辦此次針對樣品制備的應(yīng)用技術(shù)交流會。

此次會議主要分為技術(shù)交流與現(xiàn)場實(shí)際操作兩大部分，上午先由領(lǐng)拓的高級工程師講解了掃描電鏡樣品處理前技術(shù)，隨后由徠卡品牌的高級工程師介紹了投射電鏡樣品處理前技術(shù)；下午帶學(xué)生到廣東工業(yè)大學(xué)分析測試中心的實(shí)驗(yàn)室，現(xiàn)場直觀感受設(shè)備的操作檢測。

電鏡樣品處理前技術(shù)講解

實(shí)驗(yàn)室感受設(shè)備的操作應(yīng)用

所用設(shè)備

Leica EM TXP精研一體機(jī)



可對目標(biāo)區(qū)域進(jìn)行精確定位的表面處理，特別適合于SEM.TEM及LM觀察之前對樣品進(jìn)行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于剖備高難度樣品，如需要對目標(biāo)精細(xì)定位或需對肉眼難以觀察的微小目標(biāo)進(jìn)行定點(diǎn)處理。

Leica EM TIC3X三離子束切割儀



通過離子槍激發(fā)獲得的離子束,以垂直于樣品側(cè)面縱向轟擊樣品,獲得高質(zhì)量無應(yīng)力切割截面,便于SEM觀察。該處理方法適用于多層膜材料、軟硬復(fù)合材料等高難度制備樣品,可有效避免涂抹效應(yīng),不需要大量摸索條件即可獲得理想的截面，使樣品暴露內(nèi)部細(xì)微結(jié)構(gòu)信息。三離子束(分別獨(dú)立控制)，冷凍樣品臺及多樣品臺，切割區(qū)域?qū)捛疑睿瑥亩@得高質(zhì)量截面切割結(jié)果。

離子減簿儀 Leica EM UC7



徠卡EM UC7提供半薄, 超薄切片，以及樣品表面光滑處理，為透射電鏡，掃描電鏡，原子力顯微鏡和光鏡檢驗(yàn)生物和工業(yè)樣品。超薄切片的新標(biāo)準(zhǔn)：徠卡EM UC7樹立新標(biāo)準(zhǔn), 結(jié)合人體工程學(xué)設(shè)計(jì)和創(chuàng)新技術(shù)。它的功能, 對高技能或初學(xué)超薄切片者都能獲得利用效益。

領(lǐng)拓儀器精彩不斷，只要您有檢測需求，領(lǐng)拓儀器即可為您定制專項(xiàng)分析檢測解決方案，期待下一個會議我們再相會。功能, 對高技能或初學(xué)超薄切片者都能獲得利用效益。