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幾乎任何材質(zhì)樣品都可獲得高質(zhì)量截面，在沒有任何變形或損傷的情況下揭開樣品內(nèi)部真實結(jié)構信息，在使用徠卡EM TIC3X之前，這類工作從未變得如此之簡單。徠卡EM ...
LEICA EM TXP是一款的可對目標區(qū)域進行準確定位的表面處理工具，特別適合于SEM，TEM及LM觀察之前對樣品進行切割、拋光等系列處理。它尤其適合于制備高...
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