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RD001 SGW® X-4 SGW® X-4A SGW® X-4B顯微熔點(diǎn)儀合

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測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

  特點(diǎn):


  測定物質(zhì)的熔點(diǎn)。主要用于藥物、化工、紡織、染料、香料等晶體有機(jī)化合物之測定,顯微鏡觀察。既可用毛細(xì)管法測定,又可用載玻片-蓋玻片法(熱臺法)測定。


  主要技術(shù)參數(shù):


  熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃


  測量重復(fù)性:±1℃ (在<200℃ 時(shí))


  ±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí))

 


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