USPM-RU-W近紅外顯微分光測定儀可以高速&高精細(xì)地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率，因此適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

產(chǎn)品簡介：

從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定

奧林巴斯的近紅外顯微分光測定儀USPM-RU-W可以高速&高精細(xì)地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細(xì)微區(qū)域、曲面的反射率，因此zui適用于光學(xué)元件與微小的電子部件等產(chǎn)品。

技術(shù)參數(shù)：

*1 選件組件 　

*2 本社測定條件下的測定 　

*3 裝配透過率測定套件與45度反射測定套件的總重量為33kg。

*4 點徑實的測定功能

使用一臺即可進行反射率、膜厚、物體顏色、透過率、入射角45度反射率的各種分光測定。

測定反射率

測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。