EDX808T型 X射線熒光光譜儀

X射線熒光光譜儀采用幾分鐘時間內(nèi)對于各種金屬材料、爐渣、各種礦石、鐵精粉、除碳元素以外的其他所有30個元素進行測定；各類耐火材料及水泥生料樣品的成份分析；可對金屬材料及非金屬材料上的所有電鍍層的厚度進行準(zhǔn)確無損測量。

XY-801BX射線熒光光譜儀的詳細(xì)資料：

X射線熒光光譜儀原理：

X射線熒光光譜儀是通過一種波長較短的電磁輻射（X射線）。當(dāng)用X射線光管發(fā)出高能電子照射樣品時，入射電子被樣品中的電子減速，會產(chǎn)生寬帶連續(xù)X射線譜。如果入射光束為X射線，樣品中的元素內(nèi)層電子受其激發(fā)，可產(chǎn)生特征X射線，一般稱為X熒光射線（XRF）.通過SDD探測器收集到分析樣品中不同元素產(chǎn)生的熒光X射線波長和強度，可獲得樣品中的元素組成與含量信息，達到定性和定量分析的目的。

X射線熒光光譜儀用途：

1、鋼鐵行業(yè)：對生鐵、各類鑄鐵、各類合金鋼及爐渣、礦石、燒結(jié)礦、球團礦、鐵精粉、

鐵礦石除碳（C）以外的各種元素成份分析。

2、 耐火材料及水泥行業(yè)的分析：各類耐火材料及水泥生料樣品的成份分析。

3、有色行業(yè)：對鋁合金、不銹鋼、銅合金樣品及鉛鋅礦、銅礦、銀礦、鉬礦等各種成份

分析。

4、質(zhì)檢部門： ROSH 指令中的Pb，Cd ，Cr，Hg，Br 及氯素各種等成份分析。

5、 鍍層測厚：可對金屬材料及非金屬材料上的所有電鍍層的厚度進行準(zhǔn)確無損測量。

X射線熒光光譜儀儀器特點：

1、采用DPP 數(shù)字脈沖成型技術(shù)，計數(shù)率高，無漏計，穩(wěn)定性好；

2、采用X光管激發(fā)樣品，一次激發(fā)全部待測元素，韌致輻射型，Be（鈹）窗厚50μm，靶材Ag（銀靶），功耗低、壽命長，對輕重元素均有較高的激發(fā)效率；

3、 采用世界上的電致冷SDD 半導(dǎo)體探測器，分辨率高，達到130ev，無需液氮制冷，使用方便，可以一次性完成對多種元素的探測；

4、高壓電源：電壓0V-50kV 連續(xù)可調(diào)；電流0-2mA 連續(xù)可調(diào)，精度高，操作；

5、 真空環(huán)境測量，提高了輕元素的激發(fā)效率和測量范圍；

6、2048 道多道譜儀實時測量顯示，對樣品X 光譜進行精細(xì)分析，系統(tǒng)可自動識別譜線，方便了解樣品的組成；

7、 自動尋峰，消除譜峰漂移影響，確保儀器長期穩(wěn)定；

8、全中文Windows 應(yīng)用軟件，操作簡單。專業(yè)的分析軟件，可以實現(xiàn)模式識別，自動分類，開放式軟件系統(tǒng)，用戶可以根據(jù)自身需要建立庫文件；

9、融合了一系列的光譜處理方法，包括FFT（快速傅立葉變換濾波）、精準(zhǔn)的背景扣除方法、自動尋峰和Quasi-Newton（準(zhǔn)牛頓）優(yōu)化算法等；

10、的XRF分析軟件，融合了包括經(jīng)驗系數(shù)法、基本參數(shù)法（FP 法）、理論α系數(shù)法等多種經(jīng)典分析方法，全面保證測試數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性。

X射線熒光光譜儀優(yōu)勢：

精準(zhǔn)、快速、無損、直觀、環(huán)保；

精準(zhǔn)：測試結(jié)果可以接近濕化學(xué)方法測試；

快速：分析樣品中的幾十個元素只需幾分鐘；

無損：不會破壞被分析樣品的物理和化學(xué)特性；

直觀：分析結(jié)果以圖表方式直接呈現(xiàn)；

環(huán)保：不會對環(huán)境產(chǎn)生污染破壞；

X射線熒光光譜儀主要技術(shù)指標(biāo)：

1、分析元素：Na-U，主要是Al、Si、P、S、K、Ca、Ti、V、Fe、Ni、Mn、Pb、Zn、Cu、Sn、Sb、Ast等。

2、分析范圍：1ppm-99.99%。

3、同時分析：30種元素同時分析.

4、能量范圍：1-50keV.

5、測量時間：1-2 分鐘可以完成全部待測元素的含量分析.

6、進口電制冷半導(dǎo)體探測器的分辨率：130ev.

7、 管電壓：0-50Kv 管電流： 1～2000 μA.

8、儀器的分析精度：標(biāo)準(zhǔn)偏差≤0.08%.

9、分析誤差：優(yōu)于國家標(biāo)準(zhǔn)要求.

10、輻射劑量：<25μsv/h.

11、環(huán)境溫度要求：15℃-35℃

12、工作電源：交流220±10%、50、60Hz