特點(diǎn)：

• 配備了高性能的X射線管和大窗口的硅漂移探測器（SDD），能高精度地測量的鍍層
• 極耐用的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，能以極出色的長期穩(wěn)定性用于連續(xù)測量
• 可編程XY平臺和Z軸，用于自動化連續(xù)測量
• 擁有實(shí)時(shí)的視頻顯示和輔助激光點(diǎn)，使得樣品定位變得快速而簡便

應(yīng)用：

鍍層厚度測量

• 測量極薄鍍層，如電子和半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)中厚度小于0.1um的Au和Pd鍍層
• 測量汽車制造業(yè)中的硬質(zhì)涂層
• 光伏產(chǎn)業(yè)中的鍍層厚度測量

材料分析

• 電子、包裝和消費(fèi)品中按照RoHS, WEEE, CPSIA等指令對有害物質(zhì)（如重金屬）進(jìn)行鑒別
• 分析黃金和其他貴金屬及其合金
• 測定功能性鍍層的組分，如NiP鍍層中的P含量