簡(jiǎn) 介：

A1型靈敏度試片由日本無(wú)損檢測(cè)學(xué)會(huì)提出，以后為多個(gè)國(guó)家使用，主要用于零部件的磁粉探傷，在檢查中，對(duì)幾何形狀復(fù)雜，不同材質(zhì)的工作，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢查探傷設(shè)備，磁粉和磁懸液的性能，在磁粉探傷操作過(guò)程中，可以避免漏檢，正確地知道探傷工作所需的電流峰值和方向，并對(duì)顯示缺陷的磁場(chǎng)強(qiáng)度有所估量A型靈敏度試片是磁粉探傷工作者的調(diào)試工具。 

特 點(diǎn)：

試片用于磁粉顯示，圖象直觀，使用簡(jiǎn)便。對(duì)各類(lèi)零件所有方向的磁場(chǎng)，尤其檢查形狀復(fù)雜的零件時(shí)，表現(xiàn)其的優(yōu)點(diǎn)。 

性能規(guī)格：

A型標(biāo)準(zhǔn)試片分為A1、A2；A1為退火材料制成，A2為不作熱處理的冷軋材料制成。本試片按JB4730-2005標(biāo)準(zhǔn)特別注明A1試片，與日本JISG0565-6標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)ASME

SE709標(biāo)準(zhǔn)相對(duì)應(yīng)。本試片為A1 （15/50μ）標(biāo)準(zhǔn)試片。相當(dāng)于A1型試片中2# (30/100μ)標(biāo)準(zhǔn)靈敏度試片，規(guī)格為（8-9）D；適用于中靈敏度探傷，其中括號(hào)中分子為槽深，分母為試片厚度，單位為（微米），D為工件直徑本套試片包括： 15/50μ共六片試片組成 

使用方法：

1、標(biāo)準(zhǔn)試片適宜于連續(xù)磁化法，使用時(shí)應(yīng)選適當(dāng)靈敏度的試片，將刻有槽的一面朝向工件，用膠帶紙緊密地貼上，保證試片與被檢面接觸良好，膠帶紙貼于試片兩邊緣，不能覆蓋試片背面的刻槽部位。 

2、進(jìn)行外加懸場(chǎng)法，對(duì)工件進(jìn)行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，即是磁化電流）。上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。 

注意事項(xiàng)：

1、 試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，再用膠帶紙緊密地貼在工件上，保證試片與被檢面接觸良好。 

2、試片用后請(qǐng)涂防銹油。 

3、試片有銹蝕、褶折或磁特性發(fā)生改變時(shí)不得繼續(xù)使用。 

常州達(dá)森特?zé)o損檢測(cè)設(shè)備有限公司專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)供應(yīng) 磁粉探傷機(jī)、磁懸液、發(fā)差增強(qiáng)劑、磁粉靈敏度試片。