SICK或基恩士激光檢測(cè)頭光平面度檢測(cè)儀是的代表性平臺(tái)，主要由大理石臺(tái)面、幾座、置于大理石臺(tái)面上的激光測(cè)頭、電腦及電器控制柜所組成

SICK或基恩士激光檢測(cè)頭 光平面度檢測(cè)儀是的代表性平臺(tái)，主要由大理石臺(tái)面、幾座、置于大理石臺(tái)面上的激光測(cè)頭、電腦及電器控制柜所組成。

激光平面度檢測(cè)儀的詳細(xì)介紹:

概述：
1、SICK或基恩士激光測(cè)頭
2、光平面度檢測(cè)儀的代表性幾臺(tái)，主要由大理石臺(tái)面、幾座、置于大理石臺(tái)面上的激光測(cè)頭、電腦及電器控制柜所組成。
1)、告訴的圖像采集卡+優(yōu)化的圖像處理算法、檢測(cè)時(shí)間可以控制子在2.5s之內(nèi)；
2)、單點(diǎn)測(cè)量的重復(fù)性<10μm，整機(jī)重復(fù)性<50μm；
3)、均布激光三角測(cè)頭，實(shí)現(xiàn)非接觸測(cè)量；
4)、00級(jí)的大理石臺(tái)面提供統(tǒng)一的測(cè)量基準(zhǔn)；
5)、軟件界面友好，操作簡(jiǎn)單；
6)、提供超差聲報(bào)警功能；
7)、實(shí)現(xiàn)條碼錄入和檢索功能；
8)、光強(qiáng)軟件可控，設(shè)備使用時(shí)間可知。