介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷的一項重要的物理性質(zhì)，通過測定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)（ε），可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素，為提高材料的性能提供依據(jù)；該儀器廣泛應(yīng)用于大專院校、科研院所對無機非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。儀器遵從標(biāo)準(zhǔn)：GB/T5594.4-1985。
主要技術(shù)指標(biāo)
1．頻率范圍及刻度誤差
范圍：50KHz~50MHz共分七個波段，允許誤差：+2%
1.1：50~150KHz； 1.2：150~450KHz
1.3：450~1500KHz； 1.4：1.5~4.5MHz
1.5：4.5~12MHz； 1.6：12~25MHz
1.7：25~50MHz；
2．Q值測量范圍及誤差
范圍：5~500
誤差：1）當(dāng)頻率從5~25KHz
量程5~50 +5%
量程15~150 +5%
量程50~500 +7%
2）當(dāng)頻率從25~50MHz，所有量程均為+10%
3）△Q范圍：-25 ~ 0 ~ +25。
3．電感測量范圍及誤差
范圍：0.1μH~100mH
誤差：+5%+0.01μH
4．試樣尺寸
圓片形：厚度2+0.5mm，直徑為Φ30~40mm（ε<12時）
Φ25~35mm（ε=12~30時）
Φ15~20mm（ε>30時）