掃描速度的全新詮釋，擁有zui高的掃描分辨率，*異的儀器檢測性能
Dimension FastScanTM原子力顯微鏡（Atomic Force Microscope，AFM），在不損失Dimension® Icon®超高的分辨率和的儀器性能前提下，zui大限度的提高了成像速度。這項突破性的技術(shù)創(chuàng)新，從根本上解決了AFM成像速度慢的難題，大大縮短了各技術(shù)水平的AFM用戶獲得數(shù)據(jù)的時間。

為滿足AFM使用者對提高AFM使用效率的需求，Bruker開發(fā)了這套快速掃描系統(tǒng)，不降低分辨力，不增加設(shè)備復雜性，不影響儀器操作成本的前提下，幫助用戶實現(xiàn)了利用Dimension快速掃描系統(tǒng)，即時快速得到高分辨高質(zhì)量AFM圖像的愿望。當您對樣品進行掃描時，無論設(shè)置實驗參數(shù)為掃描速度> 125Hz，還是在大氣下或者溶液中1秒獲得1張AFM圖像，都能得到優(yōu)異的高分辨圖像。快速掃描這一變革性的技術(shù)創(chuàng)新重新定義了AFM儀器的操作和功能。