Smart Particle Investigator (SmartPI)是一款專為清潔技術(shù)領(lǐng)域的粒子分析而設(shè)計的軟件包。
SmartPI將ZEISS的傳統(tǒng)和FE-SEM顯微鏡轉(zhuǎn)變?yōu)樽詣颖碚鞯膹姶蠊ぞ?/span>
單個應(yīng)用程序中有興趣的粒子。
使用此軟件進(jìn)行常規(guī)分析-它可以讓您執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)任務(wù)和自動校準(zhǔn)，無需用戶輸入。
的用戶受益有多種測量參數(shù)和分類類型。
報告選項允許訪問比以往更多的信息。
使用SmartPI，您可以從SEM中獲得更多:數(shù)據(jù)采集加快，流程可以在夜間和周末運行，無需監(jiān)視。
根據(jù)您的需求配置
樣品支架用于針、過濾器和嵌入樹脂上的顆粒
?簡單的工作流程和友好的界面
自動系統(tǒng)校準(zhǔn)啟動和測量期間的間隔
?在不監(jiān)測過程的情況下連續(xù)測量多個樣品。

SmartPI自動執(zhí)行以下任務(wù):
?每個視場的粒子定位
?用于表征形態(tài)學(xué)的*圖像分析
(大小和形狀)
?eds分析，識別粒子組成
?使用分類數(shù)據(jù)庫，根據(jù)類型對粒子進(jìn)行分組的所有數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)
?存儲的粒子圖像和數(shù)據(jù)在數(shù)據(jù)庫中使用
研究和報告
提供各種數(shù)據(jù)采集和創(chuàng)建報告的工具
簡單。更聰明。更多的集成。
smartpi為您提供SEM控制，圖像處理和EDS分析的所有功能，以分析和表征顆粒。
?該系統(tǒng)允許您自動進(jìn)行重復(fù)分析。
?獲得持續(xù)的、不受監(jiān)控的操作的好處。
?通過*小的操作輸入，獲得客觀的結(jié)果。
進(jìn)行分析，如顆粒計數(shù)，粒度測定和顆粒識別。
為您的應(yīng)用程序創(chuàng)建
將常規(guī)任務(wù)自動化，讓你可以自由地專注于重要的事情，如檢查、描述和報告。
您可以建立全自動快速分析。
由于您從數(shù)據(jù)采集的手動任務(wù)中解脫出來，您可以利用節(jié)省下來的時間從數(shù)據(jù)中收集重要信息并做出明智的決定。
SmartPI是專為技術(shù)清潔而設(shè)計的。
它可以根據(jù)ISO 16232 / VDA 19和符合用戶規(guī)格自動創(chuàng)建報告。
或者用它來對結(jié)果進(jìn)行動態(tài)評估。
在相關(guān)粒子分析(CAPA)中，可以增加
通過使用SmartPI在光鏡和電子顯微鏡之間的相關(guān)工作流來提*工作效率和信息深度。