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鍍層測厚儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準

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日立分析儀器OXFORD-243E手持式涂鍍層測厚儀是一款靈便、易用的儀器,專為金屬表面處理者設計。配置的單探頭可測量鐵質(zhì)底上所有金屬鍍層,即使在極小的、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進行測量。這款測厚儀是緊固件行業(yè)應用的理想工具,采用基于相位的電渦流技術。OXFORD-243E手持式測厚儀易于用戶控制,并且可以同X射線熒光測厚儀的準確性和精密性媲美,并且免去了對多探頭、操作培訓和持續(xù)保養(yǎng)的需要。

詳細信息 在線詢價

測量范圍:

鐵上鍍層    鍍層厚度范圍     探頭

Zn            0–38μm       ECP-M

Cd      ′      0–38μm       ECP-M

Cr            0–38μm      ECP-M

Cu            0–10μm      ECP-M

 

技術參數(shù)及功能:

準確度:相對標準片±3%

精確度:0.3%

分辨率:0.1μm

電渦流:遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499, 及ASTM E376

存儲量:26,500 條存儲讀數(shù)

尺寸:14.9 x 7.94 x 3.02 cm

重量:0.26 kg 包括電池

單位:英制和公制的自動轉(zhuǎn)換

接口:RS-232串行接口,波特率可調(diào),用于下載至打印機或計算機

顯示屏:三位數(shù)LCD液晶顯示

電池:9伏堿性電池,65小時連續(xù)使用

的ECP-M探頭:ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設計,此單探頭可以測量,鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層,例如鋅、鎳、銅、鉻和鎘。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量。

 

ECP-M探頭規(guī)格(mm)

很小凸面半徑

1.143

很小凹面半徑

1.524

測量高度

101.6

很小測量直徑

2.286

底材很小

304.8


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