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NFC Inline 在線性能測試儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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CISC NFC Xplorer Inline是生產(chǎn)過程中對 NFC Inlay和標(biāo)簽進(jìn)行高速測試的設(shè)備

詳細(xì)信息 在線詢價

CISC NFC Xplorer Inline是生產(chǎn)過程中對 NFC Inlay和標(biāo)簽進(jìn)行高速測試的設(shè)備。它在生產(chǎn)過程中從頭到尾為產(chǎn)品提供質(zhì)量保證,包括性能測試和編碼。NFC Xplorer Inline可使用自帶GUI,也可通過串行接口、觸發(fā)口和 API 集成到裝配設(shè)備中。

  • 在創(chuàng)建自己的性能矩陣時更具靈活性
  • 更好的分析,同時節(jié)省時間和成本
  • 高速測試13.56 MHz 的性能(> 100k UPH
  • 提高產(chǎn)品的整體質(zhì)量管理水平
  • 生產(chǎn)中全面
  • 支持各種 NFC 標(biāo)簽類型
  • 支持安全性、加密(SAM,TAM




  1. 變化的H-field場強
  2. 提供了一個完整的解決方案包括支持Class 1-6標(biāo)簽
  3. 用于編碼和個性化的讀/寫模式
  4. 測試標(biāo)簽操作場強范圍
  5. 用于外部出發(fā)的GPIO
  6. 用于通信的串行接口
  7. 支持標(biāo)準(zhǔn):

  • ISO/IEC 14443A and B
  • ISO/IEC 15693


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