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日立 FT110A X射線熒光鍍層厚度測量儀

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自1978年以來取得傲人銷量的X射線熒光鍍層厚度測量儀的第八代產(chǎn)品FT110A,在測量精度、操作性能、軟件上有新的優(yōu)化。 通過自動定位功能,只需把樣品放在樣品臺上,便能在數(shù)秒內(nèi)自動對準觀察樣品焦點,省略了以前手動逐次對焦的操作,大幅提高了測量效果。

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概要

自1978年以來取得傲人銷量的X射線熒光鍍層厚度測量儀的第八代產(chǎn)品FT110A,在測量精度、操作性能、軟件上有新的優(yōu)化。

通過自動定位功能,只需把樣品放在樣品臺上,便能在數(shù)秒內(nèi)自動對準觀察樣品焦點,省略了以前手動逐次對焦的操作,大幅提高了測量效果。
 

特長:

1.自動對焦功能 自動接近功能
   在樣品臺上放置各種高度的樣品時,只要高低差在80mm范圍內(nèi),即可在3秒內(nèi)自動對焦被測樣品。由此進一步提高定位操作的便捷性。

    ●自動對焦功能    簡便的攝像頭對焦

    ●自動接近功能    位置的對焦

             

 

2.通過新薄膜FP法提高測量精度

   實現(xiàn)微小光束的高靈敏度,通過微小準直器提高了膜厚測量精度。鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2。另外,針對檢測器的特性開發(fā)了新的EP法,可進行無標樣測量。測量結(jié)果可一鍵生成報告書,簡單方便。

    ●新薄膜EP法    

      減少檢量線制作的繁瑣程度、實現(xiàn)了設定測量條件的簡易化

      無標樣測量方法可進行最多5層的膜厚測量

    ●自動對焦功能和距離修正功能    

      凹凸落差的樣品可通過薄膜EP法做成的相同測定條件進行測量

    ●靈敏度提高

      鍍層測量時間比本公司原有機型縮短了1/2

    ●生成報告功能

      一鍵生成測量報告書

      

 

3.廣域樣品觀察

對測量平臺(250mm*200mm)上放置的樣品拍攝一張靜態(tài)畫面后,可在獲取的廣域觀察圖像上狹域的觀察位置。由此,可大幅減少多數(shù)測量點位置的選取時間,以及在圖像上難以尋找的特定點位置的選定時間。

    ●廣域圖像觀察    

      輕松定位

               

 

 

型號名稱:FT-110A


測量元素:原子序數(shù)22(Ti)~83(Bi)

檢測器:比例計數(shù)管

X射線管:管電壓:50kV    管電流:1mA

準直器:4種(Φ0.05mm、Φ0.1mm、Φ0.2mm、Φ0.025×0.4mm)

樣品觀察:CCD攝像頭(可進行廣域觀察)

X-Ray Station:電腦、19英寸液晶顯示器

膜厚測量軟件:薄膜EP法、標準曲線法

測量功能:自動測量、中心搜索

定性功能:KL標記、比較表示

使用電源:220V/7.5A


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