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RST5210F電化學工作站

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RST5210F型電化學工作站是在RST5200F型的成熟基礎上增加四探針電阻率測試方法而來

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RST5210F型電化學工作站是在RST5200F型的成熟基礎上增加四探針電阻率測試方法而來。該測試方法是檢驗和分析導體和半導體材料質量的一種重要的工具,適用于生產企業(yè)、高等院校及各類科研部門。

  四探針電阻率測試方法與電化學工作站中的其他方法一樣,軟件界面友好、參數設置簡單明了。啟動測試后,儀器按設定的參數自動連續(xù)采集數據,在屏幕上實時顯示電阻-時間曲線。測試結束后,根據電阻形態(tài)參數自動換算成電阻率及電導率,無需人工計算。配備的專用電化學工作站軟件在電腦上運行,可隨時顯示、保存、打印數據和圖形,以備存查。

  本方法的設置參數有:電阻形態(tài)及尺寸、探針形狀及間距、激勵電流及可測電阻范圍、預熱時間、樣點間隔、樣點數量、被測器件電動勢等。

  測試工具可根據被測產品及測試項目的要求選購,配置不同的測試工具可滿足不同材料的測試要求。

  本儀器的四探針電阻率測量方法適用于分立電阻、線狀電阻、面狀電阻、塊狀電阻、直流器件內阻。也就是說,可測量導體及半導體材料的軸向電阻率、徑向電阻率、擴散層薄膜電阻率。本儀器具有自動電位扣除功能,因此可測量含源直流器件內阻。


電阻形態(tài)

例子

分立電阻

各種類型電阻器件

線狀電阻

銅線、銅棒、鋁線、鋁棒、鐵絲、導電性纖維

面狀電阻

導電覆蓋膜、ITO導電膜玻璃、金屬化標簽、半導體外延層擴散層、

觸屏薄膜、合金類箔膜、電極涂料導電漆膜,蒸發(fā)鋁膜,PCB銅箔膜

塊狀電阻

金屬方塊電阻、金屬圓塊電阻、半導體材料晶塊、半導體材料晶圓、

導電橡膠、導電性塑料、導電性陶瓷、導電性糊狀物

直流器件內阻

鋰離子電池、鉛酸蓄電池、干電池、鈕扣電池


應用領域:

電化學教學                 電化學分析

電化學合成                 痕量元素檢測

電鍍工藝開發(fā)                電池材料研究

環(huán)境保護監(jiān)測                生物電化學傳感器

電解、冶金、制藥             半導體太陽能材料研究

電化學腐蝕研究測量            超級電容器特性測試分析

電池化成及特性測試分析         電壓及電流時間曲線記錄儀


儀器亮點:

具有六十九種電化學測量方法,緊跟電化學測量技術的發(fā)展前沿。

的測量分辨率、精度及抗力,滿足痕量組分檢測及精確標定。

電位掃描范圍寬,±12.8V,確保有機、鈍化、電池、超級電容等測量。

大電流驅動,確保電解、儲能、腐蝕等大面積電極體系的應用。

豐富的智能測量、擬合技術及專業(yè)知識庫,極大地減輕實驗操作者的工作強度。

激勵及采集速率高達10Msps,能適應高速掃描及高頻交流阻抗譜的測量需求。

設有極性、電壓、電流、時間、鏈路保護機制,大大提升儲能電化學實驗的安全性。

一臺計算機可以同時連接兩臺相同的電化學工作站,同時測量分開掃描,數據共享。


主要技術指標:

儀器架構:

恒電位儀、恒電流儀、交流阻抗頻譜儀

接地模式:

可根據體系要求設置成實地模式或浮地模式

槽壓:

±15V

電位掃描范圍:

±12.8V

CV最小電位增量:

0.0125mV

電位控制精度:

<±0.5mV

電位控制噪聲:

<0.01mV

電位上升時間:

<0.00025mS

電位測量零位:

自動校正

電位更新及阻抗采集速率:

10MHz

電位測量低通濾波器:

自動或手動設置

電位測量精度:

滿量程的0.1%

掃描速度:

0.000001V/S20000V/S

參比電極輸入阻抗//電容:

>1013Ω//<10pF

恒電流輸出:

±500mA

輸入偏置電流:

<0.1pA

電流測量分辨率:

電流量程的0.00076%,最小0.2fA

電流測量零位:

自動校正

電流測量量程:

1pA500mA(25)

前置放大倍數:

5×10×100

電流測量靈敏度:

1×10-12A/V

電流測量精度:

滿量程的0.1%

電流測量低通濾波器:

自動或手動設置

方波伏安法頻率:

1Hz~100kHz

交流伏安法頻率:

0.1Hz~10kHz

交流阻抗譜頻率:

0.00001Hz1MHz11個頻段)

正弦波幅度:

0.01mV12V

CACC脈沖寬度:

0.1mS1200S

DPV脈沖寬度:

0.05mS64S

IR降補償:

自動或手動設置(10Ω~1MΩ)

多階躍循環(huán)次數:

1000

限壓反饋恒流換向時間:

<0.1mS

恒流限壓循環(huán)周期:

0.1S~100000S

脈沖電鍍//最小脈寬:

八相脈沖可正可負//0.05mS

電池全容量充電工步:

激活、恒流、恒壓、涓流

雙通道高速ADC

18bit@1Msps

數據長度:

20,000,000

通氮攪拌及敲擊控制輸出:

二路開關量信號(+5V/10mA

擴展輸出:

二路光電隔離數字量信號

儲能電化學測量保護模式:

極性、電壓、電流、時間、鏈路

電極智能柔性保護:

電壓超載、電流超載

(2)四探針電阻測試方法參數及技術指標:

1.激勵電流范圍:

10nA、100nA1uA,10uA100µA,1mA,10mA100mA、200mA500mA

2.電壓范圍:

0.5V,1V2V,5V,10V

3.電阻范圍:

0.1mΩ~1GΩ

4.方塊電阻范圍:

0.5mΩ/sq5GΩ/sq

5.電阻率范圍:

10-6106Ωcm

6.預熱時間:

0~64

7.電阻精度:

0.3%

8.被測器件電動勢:

無源或者E5mVE0.5V,E1.5V,E4.5VE9.5V。

9.測量數據顯示:

電流、電壓、電阻、方塊電阻、電阻率、電導率

10.整機不確定性誤差:

4%(標準樣片結果)


主要測試方法:

線性掃描伏安法LSV

單電位階躍計時電流法CA

線性掃描溶出伏安法

單電位階躍計時電量法CC

線性掃描循環(huán)伏安法LCV

多電位階躍計時電流法

階梯伏安法SV

多電位階躍計時電量法

階梯溶出伏安法

單電流階躍計時電位法CP

階梯循環(huán)伏安法SCV

多電流階躍計時電位法

方波伏安法SWV

恒電位電解I-T曲線

方波溶出伏安法

恒電位電解Q-T曲線

方波循環(huán)伏安法SWCV

恒電位溶出I-T曲線

差示脈沖伏安法DPV

恒電位溶出Q-T曲線

差示脈沖溶出伏安法

開路電位E-T曲線OCPT

常規(guī)脈沖伏安法NPV

電位溶出E-T曲線

差示常規(guī)脈沖伏安法DNPV

控制電流E-T曲線

差分脈沖電流檢測

控制電位電解庫侖法

雙差分脈沖電流檢測

鍍錫量測定

三脈沖電流檢測

塔菲爾圖Tafel

積分脈沖電流檢測

環(huán)形掃描

脈沖電鍍法

點蝕電位

電鍍電位監(jiān)測

電偶腐蝕

流體力學調制伏安法

電化學噪聲測量

交流伏安法ACV

氯離子濃度監(jiān)測

交流溶出伏安法

宏電池電流監(jiān)測

交流循環(huán)伏安法ACCV

半電池恒流陽極極化

二次諧波交流伏安法

半電池恒流陰極極化

傅里葉變換交流伏安法

半電池恒流循環(huán)極化

電流掃描計時電位法

電池恒流充電

交流阻抗譜EIS

電池恒流放電

交流阻抗-電位

(阻抗模-電位、輻角-電位、Mott-Schottky)

電池恒流循環(huán)充放電

交流阻抗-時間

電池全容量分段充電

溶液電阻測量

電池全容量分段放電

微分電容-電位

恒流限壓快速循環(huán)充放電

微分電容-頻率

零阻電流計

高阻電位計

四探針方塊電阻測量

器件電阻電源內阻測量

刀型探頭方塊電阻測量

線狀材料電阻率測量

 


*宏方法:用戶可自編腳本進行多種電化學方法的組合運行





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