· 20秒內(nèi)獲得高準確度的結果（例如：低合金鋼）
· 定期維護的工作量（火花臺清洗）減少8倍
· 元素在低合金鋼中平均檢測限改善2倍，元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍
· 儀器的占地面積減少27%
· 單一標樣實現(xiàn)整個系統(tǒng)的標準化, 此項每天可節(jié)省30分鐘工作時間



作為電弧/火花創(chuàng)新技術的，40多年來，SPECTRO全心投入開發(fā)出的發(fā)射光譜儀。今天，斯派克公司引入CMOS探測器技術，改變了電弧/火花分析技術的走向及未來。在所有同類分析儀中，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，元素檢測限低限，同時她也可以提供超長的正常運行時間和非常具有前瞻性的靈活性。

SPECTROLAB S 擁有一個基于CMOS的探測器的記錄系統(tǒng)，該系統(tǒng)非常適合于金屬分析。從微量元素到多基體應用，它提供了極其快速、高度準確、異常靈活的技術選擇。



樣品的分析速度是儀器性的重要標志，SPECTROLAB S的推出滿足了金屬分析市場對速度的需求。例如：當檢測低合金鋼時，它可以在20秒或更短的時間內(nèi)提供高準確度的測量值！

從技術指標和實際使用效果看，SPECTROLAB S均是目前金屬冶煉廠的、高性能的光譜儀。對于金屬再加工生產(chǎn)商、汽車和航空航天制造商、以及成品和半成品、電子產(chǎn)品、半導體等制造商來說，她給出的解決方案同樣出色。