CT-COMPACT nano分辨率可到達(dá)亞微米級，可以提供原位/4D 解決方案。與傳統(tǒng)的層析成像相比，CT-COMPACT nano納米分辨率不受樣本大小的限制，實現(xiàn)0.4μm的超高分辨率，適用于材料科學(xué)、半導(dǎo)體、石油、天然氣、生命科學(xué)等領(lǐng)域。

CT-COMPACT nano是以復(fù)雜并且容易改變的目標(biāo)來運作的。無匹配的系統(tǒng)架構(gòu)與典型的ProCon X-Ray設(shè)計相結(jié)合，為您提供了一個方便、高效的系統(tǒng)。通過亞微米分辨率和優(yōu)異的對比度實現(xiàn)掃描結(jié)果。

特征

·操作簡便

·非接觸式計量

·興趣量 - 掃描

·質(zhì)量控制獨立于材料

·缺陷識別（空洞，裂縫......）

·不同的重建算法過濾反投影，代數(shù)，統(tǒng)計

·多個掃描軌跡Circular，Helix，Planar等等

·許多掃描軌跡的視野擴展

·體積縮放（Hounsfield）

·環(huán)形偽像抑制和降噪算法

·光束硬化校正和金屬偽影減少

·用于漂移補償?shù)亩秳有Ｕ?/span>

·相位和暗場對比度選項

·用于編寫腳本的Matlab / Python / Labview界面

·批處理和掃描計劃

·時間分辨CT掃描（4D CT）

·原位選項

·實時CT重建

·使用Flat- panel探測器快速掃描<10秒

·“Industriepreis 2018” - 獲獎?wù)?/span>