型號：Vanta Element-S用途：分析鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、硫（S）和磷（P）探測器：硅漂移探測器（SDD）窗口：聚丙烯紡織纖維（Prolene）窗口，帶有聚酰亞胺網(wǎng)格背襯激勵源：4瓦特X射線管，50 kV銀（Ag）陽極靶材

Vanta Element手持式XRF系列分析儀可以對元素進行分析，從而可使用戶以實惠的價格快速完成合號的辨別和分揀。這個系列有兩個高性價比型號：

• Vanta Element分析儀可以實惠的價格完成合金辨別

• Vanta Element-S分析儀可以實惠的價格完成合金辨別，并探測到包含鎂（Mg）、鋁（Al）、硅（Si）、硫（S）和磷（P）在內(nèi)的輕元素

這兩種型號的分析儀都可以快速辨別合號，并在屏幕上清楚地顯示牌號對比信息，從而可加速金屬檢測，有效完成廢料分揀、金屬制造和貴金屬分析等應用。

類似于智能手機的用戶界面，易于學習，使用方便，有助于簡化用戶的培訓過程和分揀過程。

XRF分析儀的高級特性

Vanta Element系列分析儀具有連通性能，有助于簡化廢料金屬的回收和質(zhì)量控制過程。

準確且具有重復性的結果

• Vanta分析儀的電子部件

• Axon技術的穩(wěn)定性和計數(shù)率

方便的數(shù)據(jù)管理

• 具有無線連通性能（可選配），可方便地將數(shù)據(jù)傳輸?shù)骄W(wǎng)絡上的文件夾中

• 使用奧林巴斯的科學云系統(tǒng)可以實現(xiàn)云數(shù)據(jù)存儲，并可實時以遠程方式查看數(shù)據(jù)

  直接將數(shù)據(jù)導出到USB驅動盤中。

  用于存儲結果的1 GB工業(yè)用microSD卡

  堅固耐用且經(jīng)濟實用的手持式XRF分析儀

• 這款分析儀可用于條件惡劣的環(huán)境中，且其擁有成本較低。

• 符合IP54評級標準，具有防塵和防潮的特性。

• 通過了墜落測試（MIL-STD-810G），可避免分析儀在墜落時受到損壞，從而減少了對分析儀進行高成本維修的需求。

• 經(jīng)過評定，在-10 °C到45 °C的溫度范圍內(nèi)，可以持續(xù)進行檢測。

• 防磨不銹鋼面板。

• 無需使用工具即可方便地更換窗口。