產(chǎn)品介紹：

ProSp-RTM-UV/VIS全角度光譜測量系統(tǒng)，搭配高性能的海洋光學(xué)光纖光譜儀，通過對入射和接收兩臂的角度控制，實現(xiàn)材料任意角度的光譜測量。它可以在很多領(lǐng)域發(fā)揮作用，如微納結(jié)構(gòu)材料和器件、薄膜材料、濾光片、表面等離子體耦合共振器件、發(fā)光材料和器件、指紋按鍵器件等。ProSp-RTM-UV/VIS 測量方式有：反射光譜測量（上反射和下反射）、透射光譜測量、輻射光譜測量和散射/熒光光譜測量。每種測量方式都由系統(tǒng)自動完成，我們僅需要選擇測量方式、設(shè)置測量參數(shù)，調(diào)整樣品位置即可。系統(tǒng)也支持手動測量方式，即我們可以把入射臂和接收臂，運行到任意的角度位置進行光譜測量。

功能描述：

• 全角度測量：接收端0-360度，發(fā)射端0-270度；

• 高角度分辨率：分辨率達(dá)0.01°；

• 全光譜測量：光譜范圍250-2500nm，搭配高性能的海洋光學(xué)光纖光譜儀；

• 不同測量模式：可以實現(xiàn)上反射、下反射、透射、散射、輻射等多種模式；

• 自動測量模式：通過軟件設(shè)置（測量模式、接收角范圍、入射角范圍、角度分辨率、循環(huán)次數(shù)、積分時間等），實現(xiàn)不同模式的自動測量，中間不需人為干預(yù)；

• 手動測量模式：可以任意控制樣品臺的入射角、接收角進行光譜測量；

• 靈活的光源選擇：自帶鎢燈光源和外接光源；

• 可擴展：可以在光路中增加濾波片、偏振片、波片等不改變光路的光學(xué)器件；

應(yīng)用領(lǐng)域

• 微納光學(xué)
• 材料學(xué)
• 生物技術(shù)
• 礦物分析
• 防偽
• LED光源
• 液晶顯示
• 材料鍍膜等

                                                                                不同角度的反射率譜線

測量模式

反射測量（上反射/下反射）模式	透射測量模式
散射/熒光測量械	輻射測量模式

參數(shù)指標(biāo)

先配產(chǎn)品

可定制顯微光譜角分辨系統(tǒng)