FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210不僅僅是一臺鍍層測厚儀，它還是一臺金屬成分分析儀
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀FISCHERSCOPE® X-RAY XDL® 210X 射線熒光光譜儀，采用手動或自動方式，測量和分析印刷線路板、防護及裝飾性鍍層
及大規(guī)模生產(chǎn)的零部件上的鍍層。
簡介
FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL®是一款應(yīng)用廣泛的能量色散型x 射線光譜儀。它是從大眾認可的FISCHERSCOPE X-RAY XDL-B 型儀器上發(fā)展而來的。與上一代相類，它尤其適合無損測量鍍層厚度及材料分析，同時還能全自動測量大規(guī)模生產(chǎn)的零部件及印刷線路板。比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fischer 基本參數(shù)法，無論是鍍層系統(tǒng)還是固體和液體樣品，都能在沒有標準片的情況下進行分析和測量。最多可同時測量從氯（17）到鈾（92）中的24 種元素。
XDL 型X 射線光譜儀有著良好的長期穩(wěn)定性，這樣就不需要經(jīng)常校準儀器。
XDL 系列儀器特別適用于客戶經(jīng)行質(zhì)量控制、進料檢驗和生產(chǎn)流程監(jiān)控。
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：
?測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍部件
?測量薄鍍層，例如裝飾鉻
?測量電子工業(yè)或半導體工業(yè)中的功能性鍍層
?全自動測量，如測量印刷線路板
?分析電鍍?nèi)芤?/span>
菲希爾x-ray射線鍍層測厚儀設(shè)計理念FISCHERSCOPE X-RAY XDL 設(shè)計為界面友好的臺式測量儀器系列。我們會根據(jù)樣品平臺的運行模式以及固定或者可調(diào)節(jié)的Z 軸系統(tǒng)來設(shè)定不同型號的儀器以滿足實際應(yīng)用的需求。
XDL210：平面樣品平臺，固定的Z 軸系統(tǒng)
高分辨率的彩色視頻攝像頭具備強大的放大功能，可以精確定位測量位置。通過視頻窗口，還可以實時觀察測量過程和進度。
配有馬達驅(qū)動X-Y 樣品平臺的儀器還配備了激光點，可以輔助定位并快速對準測量位置。
測量箱底部的開槽專為大而扁平的樣品設(shè)計，可以測量比測量箱更長和更寬的樣品。例如大型的線路板。
所有的操作，測量數(shù)據(jù)的計算，以及測量數(shù)據(jù)報表的清晰顯示都是通過強大而界面友好的WinFTM®軟件在電腦上完成的。
XDL 型光譜儀是安全而保護全面的測量儀器，型式許可符合德國“DeutscheRöntgenverordnung-RöV”法規(guī)規(guī)定。
能量色散X 射線熒光光譜儀 （EDXRF） 用來測量薄鍍層和微小結(jié)構(gòu)，分析合金和微量組分。
元素范圍最多同時測量從氯（Cl 17）到鈾（U 92）之間的24 種元素
測量門向上開啟 測量方向從上到下
X 射線源帶鈹窗口的鎢管
三種高壓： 30 kV，40 kV，50 kV，可調(diào)整
孔徑（準直器） Ø 0.3 mm （可選：圓形Ø 0.1 mm； Ø 0.2 mm；長方形0.3 mm x 0.05 mm）
測量點：取決于測量距離及使用的準直器大小；實際的測量點大小與視頻窗口中顯示的一致。
最小的測量點：大小約Ø 0.16mm.
測量距離，如測量腔體內(nèi)部
0 ~ 80 mm，未校準范圍，使用保護的DCM 功能
0 ~ 20 mm，已校準范圍，使用保護的DCM 功能
X 射線探測：X 射線接收器比例接收器
樣品定位：視頻顯微鏡
高分辨 CCD 彩色攝像頭，用于查看測量位置
手動調(diào)焦或自動聚焦
十字線刻度和測量點大小經(jīng)過校準
測量區(qū)域照明亮度可調(diào)
激光點用于精確定位樣品
放大倍數(shù) 20x ~ 180x （光學變焦: 20x ~ 45x; 數(shù)字變焦: 1x, 2x, 3x, 4x）
樣品臺 XDL 210
可用樣品放置區(qū)域 463 x 500 mm
樣品重量 20 kg
樣品高度 155/90/25 mm
激光定位點 -
電氣參數(shù)
電壓，頻率 AC 115 V 或 AC 230 V 50 / 60 Hz
功率 120 W （不包括計算機）
保護等級 IP40
儀器規(guī)格
外部尺寸寬x 深x 高[mm]：570 x 760 x 650
重量 XDL210：90 kg；XDL220：95 kg；XDL230：105 kg；XDL240：120 kg
內(nèi)部測量室尺寸寬x 深x 高[mm]: 460 x 495 （參考“樣品高度”部分的說明）
