WaveMaster® IOL 2是一款基于波前測量，可用于單焦、環(huán)曲面、球面、非球面人工晶體的檢測。它是一款可以用于研發(fā)，也可用于的生產(chǎn)，主要測量屈光度，像差以及基于波前分析計算的快速MTF測量。該設(shè)備可支持人工晶體在空氣中及模擬眼環(huán)境中測量，也可實現(xiàn)對環(huán)曲面人工晶體的MTF測量。