步進(jìn)掃描

• 1988年因開發(fā)了步進(jìn)掃描技術(shù)而獲得 R&D 100獎項

• 靈活的實驗觸發(fā) - 用戶自定義的主/從端

• 廣泛的硬件和軟件，以便為您的實驗配置的裝置

• 時間分辨實驗低至 ns 尺度

• 適用于 INVENIO 和 VERTEX 系列光譜儀

• 技術(shù)和應(yīng)用支持，確保您的成功

時間分辨光譜

步進(jìn)掃描技術(shù)可以監(jiān)測非?？斓闹貜?fù)性事件（瞬態(tài)）的時間進(jìn)度。干涉儀動鏡一步一步地移動到單獨(dú)的干涉圖點處，在每一點實驗會再次重新啟動。INVENIO和VERTEX系列光譜儀采用高精確掃描儀控制的高質(zhì)量干涉儀，從而獲得的時間分辨數(shù)據(jù)。

應(yīng)用

• 生物化合物的電子轉(zhuǎn)移研究

• 高速氣相動力學(xué)

• 地質(zhì)間層物種的動力學(xué)

• 自由基中間體的態(tài)間光譜

• 燃燒過程的動力學(xué)

• 光解實驗

• 泵浦探測實驗

• 有機(jī)金屬化學(xué)反應(yīng)動力學(xué)

• 時間分辨發(fā)射光譜，例如光致發(fā)光、熒光或脈沖激光發(fā)射。