JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡新研發(fā)的super hybrid 物鏡，能獲取0.8nm (15kV) 和1.2nm (1kV) 的超高分辨率，采用了Gentle Beam 的高性能電子光學系統(tǒng)，能夠顯示試樣表面的微細結(jié)構(gòu)，可以在數(shù)百伏的低加速電壓下觀察材料的成分分布。

JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

的性能，讓您盡享輕松自如！

支持廣泛研究領域的*分析工具

超高分辨率

JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡新研發(fā)的super hybrid 物鏡，能獲取0.8nm （15kV） 和1.2nm （1kV） 的超高分辨率，采用了Gentle Beam 的高性能電子光學系統(tǒng)，能夠顯示試樣表面的微細結(jié)構(gòu)，可以在數(shù)百伏的低加速電壓下觀察材料的成分分布。

快速、高精度的分析

JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡利用日本電子技術(shù) “光闌角度*調(diào)節(jié)透鏡” （Aperture Angle Optimizing Lens），即使增大電流，也能夠保持很小的電子探針直徑。使用大束流，在不犧牲元素分析的高精度和高質(zhì)量的同時，保證了分析的高速度。還可以使用EDS、WDS、EBSD 等多種分析附件。能夠獲取無畸變的EBSD 花樣，因而可以進行高精度的晶體取向分析。

高穩(wěn)定的電子探針能獲取zui可靠性的數(shù)據(jù)

JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡使用浸沒式熱場發(fā)射電子槍，能獲取長時間穩(wěn)定的電子探針，無論何時都能實現(xiàn)高性能，無需等待探針電流的穩(wěn)定。
多個用戶獲得的數(shù)據(jù)或者不同時間獲得的數(shù)據(jù)，都能很容易地進行比較。

不受試樣限制

super hybrid 物鏡采用不漏磁設計，在分析工作距離上沒有磁場。
對磁性材料能在高倍率下進行觀察與分析。
對非導電性試樣的觀察也變得更加便捷。

走近納米世界

JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡新開發(fā)的super hybrid 物鏡，將研究者與納米世界的距離拉得更近。利用這種物鏡，即使在極低入射電子能量下，也能獲得很高的分辨率，這是觀察試樣表面納米結(jié)構(gòu)所*的。
即使是磁性材料，利用super hybrid 物鏡，也能進行高倍率的觀察與分析。

JSM-7800F 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡檢測器

通過四種※檢測器，能夠有選擇地檢測試樣中電子的能量。
（※包括選配件檢測器）