儀器簡介：

    手動橢圓偏振測厚儀使用消光法測量薄膜厚度和折射率；手動調(diào)節(jié)測試過程中的起偏和檢偏角度。橢圓偏振法廣泛地應(yīng)用于固體基片上介質(zhì)薄膜的測量。在己有測定薄膜厚度的方法中，它是能測量到和精度的一類。

實驗內(nèi)容：

1、了解并熟悉儀器的工作原理和性能

2、掌握如何利用設(shè)備測試樣品的方法

主要配置和參數(shù)：