電路芯片吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱快速循環(huán)測試
兩槽式冷熱沖擊箱區(qū)別與傳統(tǒng)的三槽式，是利用低溫及高溫蓄冷熱槽，將吊籃（放置實(shí)驗(yàn)產(chǎn)品）快.速移動到冷熱槽內(nèi)，從而達(dá)到快速溫度沖擊效果.其溫變迅速，沖擊嚴(yán)酷獨(dú)立開發(fā)控制器，人機(jī)對話友好，可依照要求擴(kuò)充程式量保留歷史實(shí)驗(yàn)記錄，及數(shù)據(jù).有各種吊藍(lán)尺寸及沖擊溫度范圍可選（ -40° C、-55° C、-65*C）。 尤其適用于IC、 電感、磁珠、

電路芯片吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱快速循環(huán)測試

兩槽式冷熱沖擊箱區(qū)別與傳統(tǒng)的三槽式，是利用低溫及高溫蓄冷熱槽，將吊籃(放置實(shí)驗(yàn)產(chǎn)品)快.速移動到冷熱槽內(nèi)，從而達(dá)到快速溫度沖擊效果.其溫變迅速，沖擊嚴(yán)酷獨(dú)立開發(fā)控制器，人機(jī)對話友好，可依照要求擴(kuò)充程式量保留歷史實(shí)驗(yàn)記錄，及數(shù)據(jù).有各種吊藍(lán)尺寸及沖擊溫度范圍可選( -40° C、-55° C、-65*C)。 尤其適用于IC、 電感、磁珠、電路板等

吊籃式高低溫沖擊試驗(yàn)箱怎么選兩箱式冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)用于測試零部件承受溫度迅速變化之耐力,該產(chǎn)品即適用于質(zhì)量控制的實(shí)驗(yàn)室又可滿足生產(chǎn)過程中篩選商用和產(chǎn)品，充分吸收國內(nèi)外同美產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)，采用兩箱移動式上下結(jié)構(gòu)， 上箱體為高溫箱，下箱體為低溫箱，也可根據(jù)用戶要求設(shè)計(jì)，制造左、右結(jié)構(gòu)的兩箱式溫度沖擊試驗(yàn)箱。

電路芯片吊籃式冷熱沖擊試驗(yàn)箱快速循環(huán)測試

兩箱冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn):

◆此設(shè)備分為高溫區(qū)、低溫區(qū)兩部分，測試產(chǎn)品置于提籃中，沖擊時(shí)提籃將測試產(chǎn)品移進(jìn)高溫區(qū)或低溫區(qū)進(jìn)行沖擊測試

產(chǎn)品為動態(tài)式。

◆造型設(shè)計(jì)，并采用LC觸摸 屏溫濕度控制器，中英文界面，操作簡易。

沖擊方式采用試驗(yàn)籃上下移動方式，將測試產(chǎn)品移進(jìn)高溫區(qū)或低溫區(qū)進(jìn)行沖擊。

◆高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，大時(shí)間可達(dá)999H，大循環(huán)周期可達(dá)9999次。

◆冷熱沖擊移動時(shí)間在10秒內(nèi)，可符合MIL、 IEC、JIs等 規(guī)范。

◆冷熱沖擊溫度恢復(fù)時(shí)間在5分鐘內(nèi)，可符合相關(guān)試驗(yàn)規(guī)范。

系統(tǒng)可作自動循環(huán)衙擎或手動選擇性沖擊。

◆采用HFC環(huán)保冷媒，二元超低溫冷凍系統(tǒng)設(shè)計(jì)， 降溫快、效率高，冷卻方式為水冷式。

不可以試驗(yàn)沖擊常溫

安裝場所

為了便于箱體散熱及維護(hù)保養(yǎng)，安裝本設(shè)備的場所必須符合下列條件：

1、與相鄰的墻壁或器物之間的距離300mm

2、為了穩(wěn)定的發(fā)揮試驗(yàn)箱的功能、性能，應(yīng)選擇常年溫度為15~35℃，相對濕度大于85%的場所。

3、安裝場所的環(huán)境溫度切忌急劇變化。

4、應(yīng)安裝在水平面上（安裝時(shí)應(yīng)用水平儀在地面上確認(rèn)水平）。

5、應(yīng)安裝在無直射陽光的場所。

6、應(yīng)安裝在通風(fēng)良好的場所。

7、應(yīng)安裝在遠(yuǎn)離可燃物、爆炸物及高溫發(fā)熱源的地方。

8、應(yīng)安裝在灰塵少的場所。

9、盡可能地安裝在靠近供電電源的場所。

致客戶們：

本試驗(yàn)箱是定制產(chǎn)品，因各行業(yè)需求不同，執(zhí)行相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)是不一樣的，試驗(yàn)箱實(shí)際價(jià)格以我司銷售工程師根據(jù)客戶要求所做的報(bào)價(jià)方案為準(zhǔn)，歡迎大家咨詢客服，進(jìn)一步了解詳細(xì)的產(chǎn)品規(guī)格書和正式報(bào)價(jià)。