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TM系列能譜儀(EDS) Quantax75

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操作簡(jiǎn)單且直觀*:和TM4000Plus搭配應(yīng)用實(shí)例*:探測(cè)器內(nèi)置型(制造商: 德國(guó)Bruker nano GmbH)

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TM系列能譜儀(EDS) Quantax75

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TM系列能譜儀(EDS) Quantax75

操作簡(jiǎn)單且直觀

*
:和TM4000Plus搭配應(yīng)用實(shí)例
*
:探測(cè)器內(nèi)置型
(制造商: 德國(guó)Bruker nano GmbH)

  • 特點(diǎn)

  • 規(guī)格

特點(diǎn)

通過(guò)簡(jiǎn)單操作即可迅速獲取彩色X射線面分布

移動(dòng)到位置,可實(shí)時(shí)確認(rèn)其譜圖

雙屏顯示

僅需選擇圖像和模板,即可在生成Word®、Excel®、面分布信息的同時(shí),實(shí)時(shí)顯示點(diǎn)分析、線分析結(jié)果等多種分析。

超高的性能(hyper map)成就了一次測(cè)試即可獲取點(diǎn)分析、線分析、面分布結(jié)果

點(diǎn)分析

可根據(jù)點(diǎn)位置移動(dòng)實(shí)時(shí)追蹤譜圖,輕松確認(rèn)目標(biāo)元素。

實(shí)時(shí)在線譜峰剝離面分布

分離出常規(guī)面分布圖像中的譜峰重疊元素,并顯示正確結(jié)果。

 

規(guī)格

検出器

項(xiàng)目內(nèi)容
探測(cè)器類(lèi)型硅漂移探測(cè)器
探測(cè)器面積30 mm2
能量分辨率148 eV (Cu-Kα)
(Mn-Kα時(shí)不高于129 eV)
可檢測(cè)元素B5~Cf98

關(guān)聯(lián)產(chǎn)品分類(lèi)

  • 掃描電子顯微鏡 (SEM)
  • TEM/SEM樣品的前處理裝置


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