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X熒光分析用鐵礦石鈷粉鈷內(nèi)標熔劑

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三氧化二鈷:混合熔劑=1:10(鈷粉熔劑1#)  1:9(鈷粉熔劑2#),另外本公司還可根據(jù) 用戶比例生產(chǎn)。

鈷內(nèi)標應用的原理:

隨著科技的進步,傳統(tǒng)的化學分析鐵礦石主、次成分的方法已經(jīng)不能滿足生產(chǎn)需要,

X射線熒光光譜分析有玻璃熔融片和粉末壓片兩種方法。粉末壓片法由于受到粒度效應和礦物效益的影響,準確性較差,一般應用在生產(chǎn)樣的檢測上。而玻璃熔融片法消除了粒度效應和礦物效應,降低了基體效應,獲得了較高的精度,適合分析不同類型的鐵礦石。鐵礦石構成比較復雜,鐵成分含量過高且分布不均勻,致使在進行成分分析時,熒光光譜法沒有化學分析法準確,為了克服這個問題,我們提出了內(nèi)標法。內(nèi)標法是利用內(nèi)標強度和分析線比或分析線與靶線相干散射線的強度比等數(shù)據(jù),計算得出元素濃度、函數(shù)的濃度,以此來得到補償吸收增強效應和儀器漂移的效果。

內(nèi)標法X射線常用的是X射線管靶線的康普頓散射線作為內(nèi)標。鐵礦石復雜多樣性決定了礦石中各元素的含量常常也讓人難以預料。如今在使用玻璃片熔融法進行鐵礦石X射線熒光光譜分析中,往往會出現(xiàn)異常偏離的現(xiàn)象。即使通過對熔融制片和校正工作曲線也不能*消除這種影響,導致對礦石中鐵元素的測定不準確。但是如果使用鈷內(nèi)標法進行試驗,得到結果的準確性和質(zhì)量就會大為提升。

鈷內(nèi)標法的應用特點:

使用康普頓散射線作為內(nèi)標進行X射線熒光光譜分析的方法。這種方法操作簡單快捷,無需添加內(nèi)標元素,便可直接進行X熒光儀軟件設置。但是這種方法受熒光儀的影響較大,容易受到探測管、X光管、電路板的老化等因素的影響,造成結果的不準確。通過鈷內(nèi)標法可以有效的克服上述方法的缺點,因為鈷和鐵兩種元素原子序數(shù)相近,具備比較相似的物理和化學性質(zhì),再加上一般鐵礦石中,鈷元素的含量很少(幾乎可以忽略),所以使用鈷內(nèi)標對鐵元素進行X射線熒光光譜分析,可以有效的消除鐵及其他元素的影響。內(nèi)標法是一種相對的校準方法,在試驗的過程中應保證內(nèi)標物質(zhì)在分析樣品中的含量一致。


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