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反宇宙射線超低本底HPGeγ譜儀

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1、反宇宙射線超低本底HPGeγ譜儀概述     

        除反康普頓譜儀之外,當前國內采用反符合技術的反宇宙射線的低本底高純鍺譜儀方面已經有典型的應用,并達到*水平。

詳細內容可參考《核技術》第33卷第7期的論文:《用反符合和熱中子屏蔽降低γ譜儀本底》。 此系統(tǒng)采用物質屏蔽與反符合技術相結合的方法,降低降低環(huán)境γ輻射和宇宙射線本底:

  • 50keV~2000keV積分本底采用反符合后降低10倍以上

  • 同時具有極低的天然核素γ射線峰本底,較通常物質屏蔽的低本底HPGeγ譜儀探測靈敏度顯著提高。

  • 系統(tǒng)低檢測限低至10-1Bq/kg以下。

2、反宇宙射線系統(tǒng)及對比結果

3、反宇宙射線低本底γ譜儀測量裝置結構示意圖


4、典型環(huán)境γ射線本底計數(shù)率比較(HPGe相對效率*)

科目

γ射線峰本底計數(shù)率(×10-3/S)

351.9kev

511kev

583.2kev

1460.8kev

一般物質屏蔽低本底γ譜儀

10~100

30

5~10

20~100

反宇宙射線超低本底γ譜儀

0.1

1.0

0.1

0.5

 


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