安捷倫 Nano Instruments推出的新型Nano Indenter G200，是在微、納米尺度上研究材料性質(zhì)的zui為*的測試平臺。

                                       Nano Indenter G200

安捷倫 Nano Instruments推出的新型Nano Indenter G200，是在微、納米尺度上研究材料性質(zhì)的zui為*的測試平臺。其*的移動系統(tǒng)可加快樣品處理量，而不影響測試準(zhǔn)確性。產(chǎn)品符合ISO 14577-1、2和3標(biāo)準(zhǔn)，確保了測試的準(zhǔn)確性與重現(xiàn)性。

Nano Indenter G200系統(tǒng)不僅是進(jìn)行納
米壓痕實(shí)驗(yàn)的旗艦產(chǎn)品，也可以用于其它類型的測試，例如力學(xué)探針、劃痕試驗(yàn)及納米力學(xué)顯微鏡。擁有一臺來自安捷倫的Nano Indenter G200系統(tǒng)，您可以進(jìn)行大量不同的測試，體驗(yàn)的控制水平。
 

設(shè)計(jì)優(yōu)勢

擁有一套安捷倫納米力學(xué)測試系統(tǒng)所具有的優(yōu)勢是從核心技術(shù)的設(shè)計(jì)開始。所有納米壓痕實(shí)驗(yàn)均依賴zui基本的載荷與位移數(shù)據(jù)，對樣品上所加載荷要求進(jìn)行zui精密的控制。 安捷倫的每一款Nano Indenter系統(tǒng)均由基于電磁激勵的載荷傳感器驅(qū)動，以消除任何可能產(chǎn)生力的漂移的因素。當(dāng)壓頭被壓入樣品中時，位移數(shù)值利用一個電容傳感器進(jìn)行測量。采用二片彈簧*設(shè)計(jì)的壓痕組元在水平向具有較強(qiáng)的剛性，而在垂直向上保持較好的柔性。
裝載樣品臺

我們*的系統(tǒng)設(shè)計(jì)確保了測試結(jié)果的可靠性，產(chǎn)品優(yōu)勢除該核心技術(shù)之外，也同時賦予了用戶靈活性與可控制性的特點(diǎn)。在同行業(yè)的TestWorks 4軟件不僅可以自動進(jìn)行測試，也可以使用戶利用網(wǎng)絡(luò)遠(yuǎn)程遙控進(jìn)行實(shí)驗(yàn)控制。有了TestWorks，您可以根據(jù)實(shí)驗(yàn)條件隨時改變數(shù)據(jù)記錄速率，從而獲取您所需要的資料。該特色使用戶可以進(jìn)行數(shù)據(jù)記錄速率的優(yōu)化，并管理測試文件的大小。

特色

• 可移動距離達(dá)200毫米
• 基于線性光學(xué)編碼器的移動系統(tǒng)
• 基于LED的框架照明系統(tǒng)
• 帶有樣品高度原位調(diào)節(jié)器的樣品臺
• 帶有位置反饋的顯微鏡
• 帶USB接口的NanoSwift控制器
• 符合ISO 14577標(biāo)準(zhǔn)，包括溫度測量
• 載荷傳感器之間自動轉(zhuǎn)換
• 安裝在機(jī)架上的電控柜

優(yōu)點(diǎn)

• 可使用整個樣品臺
• 優(yōu)良的定位精度
• 容易觀察樣品位置與樣品工作區(qū)域
• 簡化了樣品高度調(diào)節(jié)程序，加快測試處理
• 現(xiàn)代化的電子儀器界面延長系統(tǒng)壽命和系統(tǒng)的優(yōu)化升級
• 符合ISO 14577標(biāo)準(zhǔn)，確保數(shù)據(jù)完整性
• 可使用各個載荷傳感器進(jìn)行實(shí)驗(yàn)，并可隨時進(jìn)行切換
• *化的橫向占地，節(jié)約實(shí)驗(yàn)室空間