X射線相襯微米CT系統(tǒng)
和傳統(tǒng)的X射線吸收成像相比,X射線相位襯度成像能夠?yàn)檩p元素樣品提供高得多的襯度,特別適合
用于對(duì)軟組織和輕元素構(gòu)成的樣品進(jìn)行成像。目前,主要的5類(lèi)相襯成像方式中,大部分對(duì)光源的相干性
要求很高, 只能依賴同步輻射光源。由于同步輻射源占地面積大, 初期建設(shè)和日常使用及維護(hù)成本太
高,現(xiàn)階段還無(wú)法滿足臨床上日常檢查的需求,世界上很多從事相襯成像方法研究的小組都在致力于將
相襯成像技術(shù)推廣到臨床上。目前己經(jīng)普遍使用的微焦點(diǎn)源或者是傳統(tǒng)的X光管,從數(shù)值模擬和實(shí)驗(yàn)結(jié)果
來(lái)看,在進(jìn)行微焦點(diǎn)源同軸相襯成像實(shí)驗(yàn)時(shí),會(huì)遇到曝光時(shí)間長(zhǎng)、光源相干性差、X光能量選擇性受限等
問(wèn)題。

眾星聯(lián)恒科技科技有限公司致力于為X射線科研用戶提供一站式服務(wù)。在同軸相襯成像應(yīng)用領(lǐng)域,我們和眾多的設(shè)備供應(yīng)商以及國(guó)內(nèi)外研究所建立了良好的合作關(guān)系,無(wú)論是對(duì)光源、光學(xué)組件、探測(cè)器等核心部件有需求的系統(tǒng)搭建型研究客戶,還是希望獲得系統(tǒng)解決方案的客戶,我們都能提供專(zhuān)業(yè)、高效的服務(wù)。
貝爾胡椒種子測(cè)試
Kevlar復(fù)合材料測(cè)試

相對(duì)測(cè)試結(jié)果 非相襯測(cè)試結(jié)果
樣品前視圖(左)和相襯成像顯示10 μm不均勻線結(jié)構(gòu)