科隆溫度沖擊試驗箱結構由專業(yè)工業(yè)造型設計，運用3DCAD 結構設計及CAPP 加工技術，使產品外形美觀，性能穩(wěn)定可靠。

科隆溫度沖擊試驗箱結構由專業(yè)工業(yè)造型設計，運用3DCAD 結構設計及CAPP 加工技術，使產品外形美觀，性能穩(wěn)定可靠。

制冷系統(tǒng)為機械壓縮式復疊制冷機組，冷卻方式為風冷。采用數碼調溫技術，在不同工況下自動調節(jié)冷量輸出，快速接近目標值，并降低整機能耗。系統(tǒng)所有主件采用器件，性能可靠。全系列采用環(huán)保型R404a、R23 制冷劑。

控制系統(tǒng)采用高可靠性的硬件配置；*控制儀表，具有*的運算控制方式，人性化的人機界面，能為客戶的測試系統(tǒng)提供相應的同步控制；無紙化數據記錄。

一、主要技術指標

1. 容積和尺寸：

 1.1標稱內容積(L)：27L

1.2樣品室（提籃）尺寸（mm）：D 300×W 300×H300

1.3外形尺寸（mm）：D1650×W920×H 1400（外尺寸不包括凸出部分）

2. 溫度指標：

2.1 溫度沖擊范圍：-65℃～+180℃

2.2高溫區(qū)溫度上限：200℃

2.3低溫區(qū)溫度下限：-70℃

2.4樣品區(qū)溫度波動：±1.0℃ (恒溫時)

2.5溫度均勻度：±2.0℃ 

2.6測試區(qū)溫度偏差：±2.0℃ 

2.7高溫區(qū)升溫時間： 25℃～150℃＜30min

2.8低溫區(qū)降溫時間： 25℃～-65℃＜70min

2.9溫度恢復時間： ≤5min；暴露時間30min

2.10提籃轉換時間：≤5s

2.11沖擊方式：上下移動提籃式

注：以上指標的標準環(huán)境及工況為：環(huán)境溫度25℃，工況為空載。

 二、設備相關標準：

GB/T 2423.1-2001 電工電子產品基本環(huán)境試驗   

試驗A:低溫（idt IEC 60068-2-1:1990） 

GB/T 2423.2-2001 電工電子產品基本環(huán)境試驗

試驗B:高溫（idt IEC 60068-2-2:1974）

   GB/T 2424.13-2002 電工電子產品基本環(huán)境試驗

   溫度變化試驗導則（idt IEC 60068-2-33:1971）