庫(kù)侖法測(cè)厚是對(duì)被測(cè)部分的金屬鍍層進(jìn)行局部陽極溶解，通過陽極溶解鍍層達(dá)到基體時(shí)的電位變化及所需時(shí)間來進(jìn)行鍍層厚度的測(cè)量

無論從宏觀角度還是微觀角度分析，均可以清楚的認(rèn)識(shí)到只有積極做好無損檢測(cè)設(shè)備內(nèi)部校準(zhǔn)的有效性，才能提高無損檢測(cè)的準(zhǔn)確性，且需要以量值溯源作為基礎(chǔ)，多角度分析與研究。

測(cè)量鍍種：裝飾鉻、鎳、銅、鋅、錫、銀、金、鎘、硬鉻、化學(xué)鎳、多層鎳；

小可測(cè)尺寸：φ2.4mm(B型測(cè)試膠圈)、φ1.7mm(S型測(cè)試膠圈)；

數(shù)據(jù)處理：電腦顯示器實(shí)時(shí)顯示測(cè)試過程中厚度及電位變化曲線；

測(cè)試結(jié)果可保存于電腦中，隨時(shí)查閱；

 積極以量值溯源作為發(fā)展基礎(chǔ)能夠從根本上保證無損檢測(cè)數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性以及檢測(cè)的可靠性，其中依據(jù)《量值溯源要求》可以清楚的了解到量值溯源的一致性主要是建立在測(cè)量結(jié)果之上的，需要將量值溯源作為測(cè)量結(jié)果可信度的載體。

可打印測(cè)試報(bào)告；

測(cè)量范圍：0～35μm（保證精度情況下，更厚鍍層也可測(cè)量，誤差會(huì)逐漸變大）；