SIR用于離子遷移測試評估
絕緣電阻性能劣性測試評估
印刷電路板、焊錫、焊劑、封裝樹膠等GBA、DSP等微間距圖形IC封裝
電容器、連接器及其他電子器件及材料絕緣材料吸濕特性測試評估

SIR特點：

寬域、高精度、連續(xù)的高阻測試能力

在高溫高濕環(huán)境下，對測試樣本加置電壓和測試電壓，進行連續(xù)精確的測量高阻變化的規(guī)律及趨勢

靈活的、多通道分組測試能力

可根據(jù)測試不同的需求，建立多組測試模式，在1個或多個環(huán)境試驗箱里測試不同的樣品

寬范圍的偏置電壓、測試電壓

可以實現(xiàn)負偏壓到正偏壓的翻轉(zhuǎn)，測試電壓可以達到500V

安全的擊穿瞬間保護功能

高速實時性檢測電路，確保每一個通道出現(xiàn)短路時及時斷開測試回路，保證人身。設備的安全性

便于鏈接的測試夾具

可提供多種規(guī)格的測試夾具，便于測試樣品與測試系統(tǒng)的迅速、可靠鏈接

SIR符合、行業(yè)內(nèi)有關絕緣電阻測試標準要求

IPC2.6.3.3B    IPC2.6.3.4A    IPC2.6.3.5

IPC2.6.3.6     IPC2.6.3.7     IPC2.6.25等

面向中國客戶開發(fā)的測試系統(tǒng)軟件

充分滿足不同客戶的獨立測試要求，帶有數(shù)據(jù)分析功能，使測試軟件使用更方便、更完善