大氣顆粒物分析 ? 金屬、貴金屬、合金 ? 調(diào)查? RoHS 和 WEEE 篩選石油 ? 各種油品、過(guò)濾介質(zhì)、添加 劑和發(fā)動(dòng)機(jī)磨損金屬分析 ? 食品安全 ? 水泥、陶瓷、化肥 ? 原料和替代燃料 ? 冶金、礦渣及礦石 ? 考古和文 物修復(fù)、寶石學(xué)、金屬飾品 ? 聚合物、催化劑、半導(dǎo)體和磁性介質(zhì)材料 ?

  X射線熒光光譜儀

能量色散型X射線熒光光譜儀

提高元素分析的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)

X射線熒光光譜儀大氣顆粒物分析 • 金屬、貴金屬、合金 • 調(diào)查 • RoHS 和 WEEE 篩選石油 • 各種油品、過(guò)濾介質(zhì)、添加 劑和發(fā)動(dòng)機(jī)磨損金屬分析 • 食品安全 • 水泥、陶瓷、化肥 • 原料和替代燃料 • 冶金、礦渣及礦石 • 考古和文 物修復(fù)、寶石學(xué)、金屬飾品 • 聚合物、催化劑、半導(dǎo)體和磁性介質(zhì)材料 •

X射線熒光光譜儀作為 EDXRF行業(yè) 標(biāo)準(zhǔn)，ARL QUANT'X  。  以來(lái)，ARL QUANT'X采用多種 技術(shù)來(lái)推動(dòng)EDXRF 性能提高及行業(yè)發(fā)展。ARL QUANT'X 推出了 Peltier電制冷Si(Li)探測(cè)器，該臺(tái)式EDXRF現(xiàn)已發(fā)展成為一款多功能緊湊型高性能能譜。它 是一代硅漂移 探測(cè)器 (SDD)，耦合到快速 CMOS ASIC 前置放大器，兼具計(jì)數(shù)率和高分辨率特性。 探測(cè)器晶體區(qū)域可確保大的立體角，從而捕獲由樣品產(chǎn)生的 X 射線。 即使在分析小樣品或使用低至 1 mm 的準(zhǔn)直器面罩時(shí)，50瓦特的大功率 X 射線管也能實(shí)現(xiàn)有效激發(fā)。通過(guò)9個(gè)濾光片組 合，可以輕松找到激發(fā)條件。 ARL QUANT'X 支持在空 氣、氦氣和真空中進(jìn)行分析，從而確保各類(lèi)樣品（無(wú)論液體、松散粉末或固體）均可實(shí)現(xiàn)輕元素分析。

 提高性能 

 X射線熒光光譜儀與上一代產(chǎn)品相比， ARL QUANT'X 結(jié)合了電子器件、探測(cè)器、增強(qiáng)的 X 射線管以及幾何結(jié)構(gòu)，從而提高了靈敏度。如果要測(cè)定微量元素，除了需要提升靈敏度之外，光譜純度也同樣重要。 ARL QUANT'X 經(jīng)過(guò)設(shè)計(jì)，可消除探測(cè)器電子器件、分析室、光學(xué)器件和X射線管產(chǎn)生的所有雜散干擾。 ARL QUANT'X EDXRF 光譜儀通常以高于 200 Kcps 的 輸入計(jì)數(shù)率運(yùn)行，同時(shí)在 Mn Kα 條件下保持  140 eV FWHM 的典型分辨率在較短測(cè)量時(shí)間下依然可以獲得高計(jì)數(shù)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，從而獲得比上一代產(chǎn)品分析結(jié)果。

除提升性能外，ARL QUANT'X 還具有體積小的優(yōu)勢(shì)，適用于實(shí)驗(yàn)室。只需要一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)電源插座和氦氣（當(dāng)需要該 氣體時(shí)）即可使用。 在儀器接通電源幾分鐘后，Peltier 冷卻 SDD 即可運(yùn)行，儀器即進(jìn)入工作狀態(tài)，關(guān)機(jī)無(wú)需等待。

安全至上

使用 X 射線時(shí)，安全至關(guān)重要。在 ARL QUANT' X 上，通過(guò)基于互鎖的自動(dòng)防故障電路設(shè)計(jì)和在 X 射線打開(kāi)時(shí)顯示的清晰警告標(biāo)志來(lái)保證安全。在各次測(cè)量之間以及當(dāng)室蓋打開(kāi)時(shí)，X 射線管會(huì)*關(guān)閉，從而進(jìn)一步增強(qiáng)操作員的安全。ARL QUANT' X 符合安全規(guī)則與規(guī)范